一种光学薄膜生产用质量检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421922847.0

申请日：

2024-08-09

公开(公告)号：

CN223205349U

公开(公告)日：

2025-08-08

发明(设计)人：

付志峰

申请人：

深圳菲尔泰光电有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道麻磡南路31号5栋3楼及4楼

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/95 G01N19/00

代理机构：

北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825

代理人：

张彤

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学薄膜用厚度检测装置 [P].

王亚博 ;

刘国喜 ;

孙琪 ;

王相义 ;

芦淑华 .

中国专利 :CN218349447U ,2023-01-20

[2]

一种光学薄膜瑕疵检测设备 [P].

周洪钧 ;

张庆庆 ;

杜小龙 ;

张晓翔 .

中国专利 :CN222896100U ,2025-05-23

[3]

一种光学薄膜生产用剥离装置 [P].

冯贤勇 .

中国专利 :CN212147883U ,2020-12-15

[4]

一种电子光学薄膜生产用质量检测设备 [P].

王骏 .

中国专利 :CN221945856U ,2024-11-01

[5]

一种光学薄膜质量检测设备 [P].

赵文斌 ;

江晓峰 .

中国专利 :CN120044034B ,2025-10-10

[6]

一种光学薄膜生产剥离装置 [P].

尹起忠 ;

李效军 .

中国专利 :CN222475719U ,2025-02-14

[7]

一种光学薄膜生产用升降平台 [P].

龚恒伟 ;

周峰 ;

杨秀智 .

中国专利 :CN214213726U ,2021-09-17

[8]

一种光学薄膜生产用剥离装置 [P].

曹美丽 ;

杨韶环 .

中国专利 :CN222662908U ,2025-03-25

[9]

一种光学薄膜生产用剥离装置 [P].

李茂新 ;

李茂兵 .

中国专利 :CN223340240U ,2025-09-16

[10]

一种光学薄膜生产用剥离装置 [P].

龚恒伟 ;

周峰 ;

杨秀智 .

中国专利 :CN214449299U ,2021-10-22

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