一种电子光学薄膜生产用质量检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420246791.5

申请日：

2024-02-01

公开(公告)号：

CN221945856U

公开(公告)日：

2024-11-01

发明(设计)人：

王骏

申请人：

世电新材料技术（山东）有限公司

申请人地址：

274000 山东省菏泽市牡丹区吴店镇吴店工业园8号

IPC主分类号：

G01N21/59

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

北京慧思勤行专利代理事务所(普通合伙) 16263

代理人：

唐述伟

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-01	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学薄膜质量检测设备 [P].

赵文斌 ;

江晓峰 .

中国专利 :CN120044034B ,2025-10-10

[2]

一种电子光学薄膜 [P].

林育政 .

中国专利 :CN215320631U ,2021-12-28

[3]

一种光学薄膜生产用质量检测装置 [P].

付志峰 .

中国专利 :CN223205349U ,2025-08-08

[4]

一种光学薄膜表面质量检测设备 [P].

李晨 ;

李洪亮 ;

谢微 .

中国专利 :CN118817702A ,2024-10-22

[5]

一种光学薄膜表面质量检测设备 [P].

李晨 ;

李洪亮 ;

谢微 .

中国专利 :CN118817702B ,2025-07-25

[6]

一种光学薄膜质量检测设备及其控制方法 [P].

赵文斌 ;

江晓峰 .

中国专利 :CN120044034A ,2025-05-27

[7]

一种光学薄膜瑕疵检测设备 [P].

周洪钧 ;

张庆庆 ;

杜小龙 ;

张晓翔 .

中国专利 :CN222896100U ,2025-05-23

[8]

一种主辊轴生产用质量检测设备 [P].

杜春保 ;

王二瑞 ;

朱弘 ;

邓磊 .

中国专利 :CN223332369U ,2025-09-12

[9]

一种光学薄膜生产用剥离装置 [P].

龚恒伟 ;

周峰 ;

杨秀智 .

中国专利 :CN214449299U ,2021-10-22

[10]

一种光学薄膜加工厚度检测设备 [P].

周慧 ;

汪森 .

中国专利 :CN220288582U ,2024-01-02

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