一种光学薄膜质量检测设备及其控制方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510235629.2

申请日：

2025-02-28

公开(公告)号：

CN120044034A

公开(公告)日：

2025-05-27

发明(设计)人：

赵文斌江晓峰

申请人：

安徽点宇新材料科技有限公司

申请人地址：

232000 安徽省淮南市山南新区新型显示产业园18号楼101室

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/892 G01N21/01 B65H23/34 B65H18/10

代理机构：

安徽云智数知识产权代理事务所(普通合伙) 34374

代理人：

吴金华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20250228
2025-05-27	公开	公开
2025-10-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学薄膜质量检测设备 [P].

赵文斌 ;

江晓峰 .

中国专利 :CN120044034B ,2025-10-10

[2]

一种光学薄膜表面质量检测设备 [P].

李晨 ;

李洪亮 ;

谢微 .

中国专利 :CN118817702A ,2024-10-22

[3]

一种光学薄膜表面质量检测设备 [P].

李晨 ;

李洪亮 ;

谢微 .

中国专利 :CN118817702B ,2025-07-25

[4]

一种电子光学薄膜生产用质量检测设备 [P].

王骏 .

中国专利 :CN221945856U ,2024-11-01

[5]

一种多功能光学薄膜检测设备 [P].

郑斌 ;

王利君 ;

尹梓桐 ;

韦潘潘 ;

杨小龙 .

中国专利 :CN121141645A ,2025-12-16

[6]

一种光学薄膜瑕疵检测设备 [P].

周洪钧 ;

张庆庆 ;

杜小龙 ;

张晓翔 .

中国专利 :CN222896100U ,2025-05-23

[7]

一种光学薄膜生产用质量检测装置 [P].

付志峰 .

中国专利 :CN223205349U ,2025-08-08

[8]

一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法 [P].

李晓宇 ;

彭慧 ;

李正 ;

李晓丹 ;

罗锦番 ;

刘振 .

中国专利 :CN118521584A ,2024-08-20

[9]

一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法 [P].

李晓宇 ;

彭慧 ;

李正 ;

李晓丹 ;

罗锦番 ;

刘振 .

中国专利 :CN118521584B ,2025-05-16

[10]

一种基于图像处理的光学薄膜质量检测方法 [P].

郑少宏 ;

郑少英 ;

郑少伟 .

中国专利 :CN120976134A ,2025-11-18

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