一种多功能光学薄膜检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511436047.7

申请日：

2025-10-09

公开(公告)号：

CN121141645A

公开(公告)日：

2025-12-16

发明(设计)人：

郑斌王利君尹梓桐韦潘潘杨小龙

申请人：

凯鑫森（浙江）新材料产业有限公司凯鑫森（上海）功能性薄膜产业股份有限公司

申请人地址：

314200 浙江省嘉兴市平湖市新仓镇仓庆路518号

IPC主分类号：

G01N21/84

IPC分类号：

G01N21/41 G01N21/01

代理机构：

嘉兴尚正专利代理事务所(普通合伙) 33467

代理人：

陈中恺

法律状态：

公开

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	公开	公开

共 50 条

[1]

一种光学薄膜质量检测设备 [P].

赵文斌 ;

江晓峰 .

中国专利 :CN120044034B ,2025-10-10

[2]

一种光学薄膜瑕疵检测设备 [P].

周洪钧 ;

张庆庆 ;

杜小龙 ;

张晓翔 .

中国专利 :CN222896100U ,2025-05-23

[3]

一种光学薄膜表面质量检测设备 [P].

李晨 ;

李洪亮 ;

谢微 .

中国专利 :CN118817702A ,2024-10-22

[4]

一种光学薄膜表面质量检测设备 [P].

李晨 ;

李洪亮 ;

谢微 .

中国专利 :CN118817702B ,2025-07-25

[5]

一种光学薄膜质量检测设备及其控制方法 [P].

赵文斌 ;

江晓峰 .

中国专利 :CN120044034A ,2025-05-27

[6]

一种光学薄膜加工厚度检测设备 [P].

周慧 ;

汪森 .

中国专利 :CN220288582U ,2024-01-02

[7]

一种光学薄膜透光度检测装置 [P].

朴治炫 ;

罗喜柱 ;

郑熙锡 ;

崔允喆 .

中国专利 :CN217901556U ,2022-11-25

[8]

一种光学薄膜用多功能分条机 [P].

欧阳宝旭 ;

陈涛 ;

黄德元 .

中国专利 :CN223099326U ,2025-07-15

[9]

一种光学薄膜耐久度检测设备 [P].

周有文 ;

周小马 ;

胡必刚 .

中国专利 :CN119000385A ,2024-11-22

[10]

一种光学薄膜耐久度检测设备 [P].

付志峰 .

中国专利 :CN117347216B ,2024-02-13

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