一种用于集成电路测试的承载治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421988164.5

申请日：

2024-08-15

公开(公告)号：

CN223244631U

公开(公告)日：

2025-08-19

发明(设计)人：

王彬张昊

申请人：

深圳市兴光电子有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市宝安区西乡街道共乐社区银田工业区西发小区C区11栋厂房2层

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/02 G01R31/28

代理机构：

合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142

代理人：

李金标

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-19	授权	授权

共 50 条

[1]

用于集成电路测试的承载治具 [P].

王秀军 ;

顾耀 ;

杨征 ;

郝纬 ;

王濬腾 .

中国专利 :CN207611070U ,2018-07-13

[2]

一种用于集成电路测试的承载治具 [P].

方经军 .

中国专利 :CN211122953U ,2020-07-28

[3]

一种用于集成电路测试的承载治具 [P].

谢文杰 ;

罗圣军 .

中国专利 :CN220473578U ,2024-02-09

[4]

一种集成电路测试用承载治具 [P].

张曾彪 .

中国专利 :CN213091805U ,2021-04-30

[5]

一种便于调节的集成电路测试用承载治具 [P].

柯武生 ;

王桂桂 ;

黄崇城 ;

张进国 .

中国专利 :CN211652950U ,2020-10-09

[6]

一种集成电路测试治具 [P].

高宗英 ;

田治峰 ;

贺涛 ;

高凯 ;

王强 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN203376446U ,2014-01-01

[7]

一种集成电路测试治具 [P].

孙玉龙 .

中国专利 :CN221612911U ,2024-08-27

[8]

一种集成电路测试治具 [P].

李志丽 ;

徐广德 .

中国专利 :CN220305441U ,2024-01-05

[9]

一种可调集成电路测试治具 [P].

夏徐林 ;

凌信 .

中国专利 :CN214174563U ,2021-09-10

[10]

一种可调集成电路测试治具 [P].

周平 .

中国专利 :CN204166014U ,2015-02-18

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