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一种PM芯片检测电路及检测系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202421965661.3
申请日
:
2024-08-14
公开(公告)号
:
CN223244752U
公开(公告)日
:
2025-08-19
发明(设计)人
:
鲍黎明
刘成明
周诚
张志静
申请人
:
湖北丹瑞新材料科技有限公司
申请人地址
:
442700 湖北省十堰市丹江口市水都开发区水都大道22号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R31/52
G01R31/54
G05B19/042
代理机构
:
武汉探智知识产权代理事务所(普通合伙) 42309
代理人
:
刘泽
法律状态
:
授权
国省代码
:
湖北省 武汉市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-08-19
授权
授权
共 50 条
[1]
一种PM芯片检测电路
[P].
鲍黎明
论文数:
0
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机构:
湖北丹瑞新材料科技有限公司
湖北丹瑞新材料科技有限公司
鲍黎明
;
刘成明
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机构:
湖北丹瑞新材料科技有限公司
湖北丹瑞新材料科技有限公司
刘成明
;
周诚
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机构:
湖北丹瑞新材料科技有限公司
湖北丹瑞新材料科技有限公司
周诚
;
张志静
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机构:
湖北丹瑞新材料科技有限公司
湖北丹瑞新材料科技有限公司
张志静
.
中国专利
:CN118795317A
,2024-10-18
[2]
一种看门狗芯片性能检测电路及装置
[P].
李翔
论文数:
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机构:
太仓市同维电子有限公司
太仓市同维电子有限公司
李翔
.
中国专利
:CN223538951U
,2025-11-11
[3]
一种检测电路及检测系统
[P].
付新辉
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付新辉
.
中国专利
:CN208313877U
,2019-01-01
[4]
一种芯片检测电路及设备
[P].
刘瑾浩
论文数:
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刘瑾浩
;
曹兴
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曹兴
.
中国专利
:CN215005736U
,2021-12-03
[5]
一种回路电阻检测电路、检测仪及检测系统
[P].
尹越超
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0
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尹越超
.
中国专利
:CN210665881U
,2020-06-02
[6]
开尔文检测电路和芯片测试系统
[P].
李朔男
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李朔男
;
张杰
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张杰
;
金晔
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金晔
;
王钢
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王钢
;
陶银娇
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陶银娇
.
中国专利
:CN211905585U
,2020-11-10
[7]
检测电路、检测方法及芯片
[P].
房亮
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房亮
;
魏江龙
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魏江龙
;
应子罡
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应子罡
;
曹正
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曹正
;
刘银栋
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刘银栋
;
张雄波
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张雄波
;
于万斌
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于万斌
.
中国专利
:CN114337734A
,2022-04-12
[8]
检测电路、检测装置及检测系统
[P].
张凯
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张凯
;
唐以尧
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唐以尧
;
张军委
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张军委
;
王德胜
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王德胜
;
轩风
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轩风
.
中国专利
:CN213181831U
,2021-05-11
[9]
一种漏电流检测电路及检测系统
[P].
蔡宪逸
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蔡宪逸
;
柳小健
论文数:
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柳小健
.
中国专利
:CN215180771U
,2021-12-14
[10]
一种电流检测电路及电流检测系统
[P].
施雪松
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机构:
南京隼眼电子科技有限公司
南京隼眼电子科技有限公司
施雪松
;
杨庚
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机构:
南京隼眼电子科技有限公司
南京隼眼电子科技有限公司
杨庚
;
李明
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机构:
南京隼眼电子科技有限公司
南京隼眼电子科技有限公司
李明
;
张燎
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机构:
南京隼眼电子科技有限公司
南京隼眼电子科技有限公司
张燎
;
王冲
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机构:
南京隼眼电子科技有限公司
南京隼眼电子科技有限公司
王冲
;
陈涛
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机构:
南京隼眼电子科技有限公司
南京隼眼电子科技有限公司
陈涛
.
中国专利
:CN222212853U
,2024-12-20
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