一种PM芯片检测电路及检测系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421965661.3
申请日
2024-08-14
公开(公告)号
CN223244752U
公开(公告)日
2025-08-19
发明(设计)人
鲍黎明 刘成明 周诚 张志静
申请人
湖北丹瑞新材料科技有限公司
申请人地址
442700 湖北省十堰市丹江口市水都开发区水都大道22号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R31/52 G01R31/54 G05B19/042
代理机构
武汉探智知识产权代理事务所(普通合伙) 42309
代理人
刘泽
法律状态
授权
国省代码
湖北省 武汉市
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共 50 条
[41]
一种芯片检测方法及芯片检测系统 [P]. 
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一种芯片动态电压降检测电路及检测方法 [P]. 
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[44]
一种检测芯片及检测系统 [P]. 
郑兆祯 ;
丁新琪 ;
廖桂波 ;
吴阳烽 ;
焦旺 ;
王菊 ;
涂庆明 .
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[45]
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[49]
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[50]
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