芯片检测电路、基于芯片检测电路的检测方法及检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410892093.7

申请日：

2024-07-03

公开(公告)号：

CN118936285A

公开(公告)日：

2024-11-12

发明(设计)人：

邹良云刘世生徐颖慧黄荣超

申请人：

深南电路股份有限公司

申请人地址：

518117 广东省深圳市龙岗区坪地街道盐龙大道1639号

IPC主分类号：

G01B7/00

IPC分类号：

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

黎坚怡

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-12	公开	公开
2024-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 7/00申请日:20240703

共 50 条

[1]

检测电路、检测方法及芯片 [P].

房亮 ;

魏江龙 ;

应子罡 ;

曹正 ;

刘银栋 ;

张雄波 ;

于万斌 .

中国专利 :CN114337734A ,2022-04-12

[2]

电容检测电路、检测方法、检测芯片以及检测装置 [P].

张忠 ;

冯彦东 ;

张燕歌 ;

刘腾飞 ;

徐勤涛 ;

谢伟军 .

中国专利 :CN118199605A ,2024-06-14

[3]

芯片异常检测电路及芯片异常检测装置 [P].

黄笑宇 .

中国专利 :CN109143018A ,2019-01-04

[4]

时钟检测电路、检测方法、芯片及通信系统 [P].

阮召崧 ;

吴磊 .

中国专利 :CN118118010A ,2024-05-31

[5]

时钟检测电路、检测方法、芯片及通信系统 [P].

阮召崧 ;

吴磊 .

中国专利 :CN118118010B ,2024-10-15

[6]

芯片裂缝检测电路、芯片裂缝检测装置和芯片 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN223363152U ,2025-09-19

[7]

光检测电路、芯片及光检测方法 [P].

于慧红 ;

刘明磊 ;

陈永强 .

中国专利 :CN120105495A ,2025-06-06

[8]

芯片功能检测电路和芯片功能检测装置 [P].

李小明 .

中国专利 :CN222653078U ,2025-03-21

[9]

芯片检测电路及方法 [P].

吴知洪 ;

匡毫喜 ;

宋海宏 .

中国专利 :CN117949813A ,2024-04-30

[10]

芯片检测接口电路 [P].

杨猛猛 .

中国专利 :CN215526028U ,2022-01-14

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