基于空间调制的光谱共焦三维测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510788731.5

申请日：

2025-06-13

公开(公告)号：

CN120506903A

公开(公告)日：

2025-08-19

发明(设计)人：

余安澜刘璐宁苗丹

申请人：

武汉精测电子集团股份有限公司武汉精立电子技术有限公司

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号

IPC主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G02B26/10 G02F1/01 G01B11/06

代理机构：

武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224

代理人：

张英

法律状态：

公开

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-19	公开	公开
2025-09-05	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/24申请日:20250613

共 50 条

[1]

基于波长调制的光谱共焦位移测量系统及测量方法 [P].

王之一 ;

冯晓鹏 ;

王建立 ;

刘昌华 ;

贾建禄 .

中国专利 :CN119354064A ,2025-01-24

[2]

基于波长调制的光谱共焦位移测量系统及测量方法 [P].

王之一 ;

冯晓鹏 ;

王建立 ;

刘昌华 ;

贾建禄 .

中国专利 :CN119354064B ,2025-03-18

[3]

基于光谱调制与多光谱成像的高动态范围三维测量方法 [P].

王亚军 ;

罗斌 ;

王伟 .

中国专利 :CN109916336B ,2019-06-21

[4]

基于光谱共焦的胶体三维重建与厚度测量方法和系统 [P].

洪汉玉 ;

石教炜 ;

章秀华 ;

赵卿松 ;

赵书涵 ;

王朋 ;

李兴珣 ;

徐洋洋 .

中国专利 :CN111238383B ,2020-06-05

[5]

光谱共焦测量装置及测量方法 [P].

王锦峰 ;

罗媛 ;

何京 ;

寇冠中 .

中国专利 :CN111879239B ,2020-11-03

[6]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

[7]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

木村匠 .

中国专利 :CN102628678B ,2012-08-08

[8]

基于FPGA的三维测量方法 [P].

沈晶晶 ;

胡茂海 .

中国专利 :CN106643627A ,2017-05-10

[9]

三维测量方法 [P].

林祯 .

中国专利 :CN102667854A ,2012-09-12

[10]

一种基于空间编码的三维测量方法 [P].

麦宋平 ;

王晓宇 ;

崔博森 .

中国专利 :CN117830431A ,2024-04-05

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