X射线显微镜中引导参数选择的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480011741.1

申请日：

2024-02-26

公开(公告)号：

CN120659989A

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

曾巧仪内奥米·克特威贾斯汀·汉伦米奥·塔恩罗宾·怀特布莱恩·史密斯格哈德·克兰佩特安克·杜奇克

申请人：

卡尔蔡司有限公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州都柏林市中心公园路5300号

IPC主分类号：

G01N23/046

IPC分类号：

G06F3/0484

代理机构：

北京高沃律师事务所 11569

代理人：

王爱涛

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	公开	公开
2025-10-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/046申请日:20240226

共 50 条

[1]

用于在X射线显微镜中引导几何和光学放大的方法和系统 [P].

安德鲁·朱 ;

内奥米·克特威 ;

曾巧仪 ;

苏珊·坎德尔 ;

托马斯·A·凯斯 ;

布莱恩·史密斯 ;

贾斯汀·汉伦 ;

韦恩·布罗德里克 .

美国专利 :CN120917528A ,2025-11-07

[2]

扩展显微镜中的X射线成像 [P].

曹培炎 .

中国专利 :CN117957575A ,2024-04-30

[3]

X射线显微镜 [P].

姆拉丁·阿布比奇罗维奇·库马科夫 .

中国专利 :CN1623209A ,2005-06-01

[4]

X射线显微镜 [P].

松山智至 ;

山田纯平 .

中国专利 :CN108028089A ,2018-05-11

[5]

TALBOT X射线显微镜 [P].

云文兵 ;

西尔维娅·贾·云·路易斯 ;

雅诺什·科瑞 ;

大卫·维恩 ;

斯里瓦特桑·塞沙德里 .

中国专利 :CN110520716B ,2019-11-29

[6]

用于操纵显微镜中的光路的方法和装置、用于摄取显微镜中的图像堆栈的方法 [P].

弗罗里安·法尔巴赫 .

中国专利 :CN111868575A ,2020-10-30

[7]

显微镜和用于确定显微镜中的像差的方法 [P].

克里斯蒂安·舒曼 ;

亚历山大·韦斯 ;

安德烈亚斯·洛特 .

德国专利 :CN112748562B ,2024-03-29

[8]

用于操纵显微镜中的光路的方法和装置、用于摄取显微镜中的图像堆栈的方法 [P].

弗罗里安·法尔巴赫 .

德国专利 :CN117420669A ,2024-01-19

[9]

显微镜和用于确定显微镜中的像差的方法 [P].

克里斯蒂安·舒曼 ;

亚历山大·韦斯 ;

安德烈亚斯·洛特 .

中国专利 :CN112748562A ,2021-05-04

[10]

X射线显微镜实验装置 [P].

范国华 ;

夏明许 ;

肖体乔 ;

杨尚京 ;

唐光泽 ;

邓彪 ;

杜国浩 .

中国专利 :CN306861489S ,2021-10-01

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