用于在X射线显微镜中引导几何和光学放大的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480009283.8

申请日：

2024-02-27

公开(公告)号：

CN120917528A

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

安德鲁·朱内奥米·克特威曾巧仪苏珊·坎德尔托马斯·A·凯斯布莱恩·史密斯贾斯汀·汉伦韦恩·布罗德里克

申请人：

卡尔蔡司有限公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州都柏林市中心公园路5300号

IPC主分类号：

G21K7/00

IPC分类号：

代理机构：

北京高沃律师事务所 11569

代理人：

李巧

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	公开	公开
2025-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G21K 7/00申请日:20240227

共 50 条

[1]

X射线显微镜中引导参数选择的方法和系统 [P].

曾巧仪 ;

内奥米·克特威 ;

贾斯汀·汉伦 ;

米奥·塔恩 ;

罗宾·怀特 ;

布莱恩·史密斯 ;

格哈德·克兰佩特 ;

安克·杜奇克 .

美国专利 :CN120659989A ,2025-09-16

[2]

照明装置和用于在显微镜中照明的方法和显微镜 [P].

F·法尔巴赫 .

中国专利 :CN110168423B ,2019-08-23

[3]

用于光学显微镜中的图像处理的系统和方法 [P].

P.C.戈德温 .

中国专利 :CN107850766B ,2018-03-27

[4]

扩展显微镜中的X射线成像 [P].

曹培炎 .

中国专利 :CN117957575A ,2024-04-30

[5]

在显微镜中快速找到物像的装置和方法 [P].

谢小军 .

中国专利 :CN103676125A ,2014-03-26

[6]

显微镜和用于确定显微镜中的像差的方法 [P].

克里斯蒂安·舒曼 ;

亚历山大·韦斯 ;

安德烈亚斯·洛特 .

德国专利 :CN112748562B ,2024-03-29

[7]

显微镜和用于确定显微镜中的像差的方法 [P].

克里斯蒂安·舒曼 ;

亚历山大·韦斯 ;

安德烈亚斯·洛特 .

中国专利 :CN112748562A ,2021-05-04

[8]

用于x射线显微镜检查的方法和设备 [P].

云文兵 ;

西尔维娅·贾·云·路易斯 ;

雅诺什·科瑞 ;

斯里瓦特桑·瑟哈德里 ;

艾伦·弗朗西斯·里昂 ;

大卫·维内 .

中国专利 :CN109564176A ,2019-04-02

[9]

用于在显微镜中监测浸液的方法 [P].

托马斯·奥尔特 ;

丹尼尔·哈泽 .

中国专利 :CN114200658A ,2022-03-18

[10]

显微镜系统和显微镜系统的控制方法 [P].

木原信宏 ;

大里洁 ;

木岛公一朗 .

中国专利 :CN102053358A ,2011-05-11

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