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一种光刻机曝光剂量控制系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202310103021.5
申请日
:
2023-02-13
公开(公告)号
:
CN116107174B
公开(公告)日
:
2025-09-23
发明(设计)人
:
陈浩然
李立孟
张友宝
马兴华
童长青
雷波涛
申请人
:
上海镭望光学科技有限公司
申请人地址
:
201821 上海市嘉定区叶城路1288号6幢J
IPC主分类号
:
G03F7/20
IPC分类号
:
代理机构
:
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317
代理人
:
刘翠;张宁展
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-20
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G03F 7/20申请日:20230213
2025-09-23
授权
授权
共 50 条
[1]
光刻机曝光剂量控制方法
[P].
张俊
论文数:
0
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0
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0
张俊
;
张志钢
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张志钢
;
罗闻
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罗闻
.
中国专利
:CN102081307B
,2011-06-01
[2]
光刻机的曝光剂量控制架构
[P].
张琪
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机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
张琪
;
符友银
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机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
符友银
;
陈钰思阳
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机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
陈钰思阳
;
麻雨含
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机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
麻雨含
.
中国专利
:CN118818921A
,2024-10-22
[3]
直写式光刻机曝光控制系统
[P].
王正宏
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0
王正宏
.
中国专利
:CN201194067Y
,2009-02-11
[4]
一种光源曝光剂量控制系统及控制方法
[P].
李平欣
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李平欣
;
李蒙
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李蒙
;
蒋志勇
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蒋志勇
;
马鹏川
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马鹏川
.
中国专利
:CN108121163A
,2018-06-05
[5]
一种基于曝光剂量控制系统的曝光剂量控制方法
[P].
刘玉倩
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刘玉倩
;
张炳寅
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张炳寅
;
张利云
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张利云
;
高繁星
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高繁星
.
中国专利
:CN114578658A
,2022-06-03
[6]
一种分布式曝光剂量控制系统及方法
[P].
孙智超
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孙智超
;
罗闻
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罗闻
;
张曦
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张曦
.
中国专利
:CN102914945A
,2013-02-06
[7]
剂量控制系统
[P].
S·W·麦克罗根
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
S·W·麦克罗根
;
O·F·J·努德曼
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
O·F·J·努德曼
.
:CN120435687A
,2025-08-05
[8]
光刻机控制系统和方法
[P].
王伟
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王伟
;
李蒙
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李蒙
.
中国专利
:CN110874020A
,2020-03-10
[9]
光刻机曝光系统
[P].
胡钰
论文数:
0
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0
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0
胡钰
.
中国专利
:CN201194068Y
,2009-02-11
[10]
光刻机曝光系统
[P].
胡钰
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0
胡钰
.
中国专利
:CN101231475A
,2008-07-30
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