一种测试SOC的测试系统及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510666683.2

申请日：

2025-05-22

公开(公告)号：

CN120631749A

公开(公告)日：

2025-09-12

发明(设计)人：

曾学冬

申请人：

深圳市汇春科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区笋岗街道田心社区梨园路与梅园路交汇处东北侧深业泰富广场B座906-911

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

广东创兴方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 44732

代理人：

黄明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250522
2025-09-12	公开	公开

共 50 条

[1]

一种SOC芯片测试系统及测试方法 [P].

吴清源 ;

程飞 ;

吕尧明 ;

杨宏 ;

黄海 .

中国专利 :CN114487791B ,2022-05-13

[2]

测试系统及其测试方法 [P].

杨正祥 .

中国专利 :CN103065572A ,2013-04-24

[3]

SDK测试平台、测试系统及其测试方法 [P].

魏佳 ;

白超星 .

中国专利 :CN110096446A ,2019-08-06

[4]

一种基于FPGA的测试单元及其测试系统和测试方法 [P].

曹佶 ;

赵宝忠 .

中国专利 :CN112666443A ,2021-04-16

[5]

一种基于FPGA的测试单元及其测试系统和测试方法 [P].

曹佶 ;

赵宝忠 .

中国专利 :CN112666443B ,2024-09-10

[6]

xDSL测试系统及其测试方法 [P].

赵社社 .

中国专利 :CN102611804A ,2012-07-25

[7]

BIOS测试系统及其测试方法 [P].

曹翔 .

中国专利 :CN101604275A ,2009-12-16

[8]

一种测试电路及其测试方法、测试系统 [P].

高弘玮 ;

张国庆 ;

杨红霞 ;

赵普查 ;

白晓鹏 ;

赵科 ;

贾智慧 ;

宗岩 ;

王晓伟 ;

刘耀荣 .

中国专利 :CN108562839A ,2018-09-21

[9]

一种基于测试系统实现的测试方法及其测试系统 [P].

陈其佑 ;

周亮 ;

梅振业 ;

全嘉旺 ;

胡泽洲 ;

黄瑞 ;

陈晓文 .

中国专利 :CN119469687A ,2025-02-18

[10]

一种小光斑测试系统及其测试方法 [P].

张建 ;

高劲松 ;

王笑夷 .

中国专利 :CN109724780A ,2019-05-07

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