测试用例回归方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510685233.8

申请日：

2025-05-26

公开(公告)号：

CN120653553A

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

张红兵刘洁曹铸苏衍浩

申请人：

济南迈威智能科技有限公司

申请人地址：

250000 山东省济南市高新区舜华路街道浪潮路1036号浪潮科技园S02楼32层3202室

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250

代理人：

龙丽林

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	公开	公开
2025-10-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250526

共 50 条

[1]

测试用例回归方法、装置、设备和存储介质 [P].

沈旭 ;

王芳 ;

杨晶晶 .

中国专利 :CN112380127B ,2021-02-19

[2]

回归测试用例筛选方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

袁野 ;

李晨阳 .

中国专利 :CN119357059A ,2025-01-24

[3]

测试用例查找方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘文锐 .

中国专利 :CN112100359B ,2024-09-03

[4]

测试用例查找方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘文锐 .

中国专利 :CN112100359A ,2020-12-18

[5]

测试用例处理方法、装置、设备及存储介质 [P].

苏京刚 ;

成敏 .

中国专利 :CN112269745A ,2021-01-26

[6]

测试用例处理方法、装置、设备及存储介质 [P].

苏京刚 ;

成敏 .

中国专利 :CN112269745B ,2024-12-31

[7]

回归测试用例确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李霞 ;

杨伟楠 .

中国专利 :CN109828909A ,2019-05-31

[8]

回归测试用例库的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王丽 ;

李辉 ;

成文 .

中国专利 :CN117632741A ,2024-03-01

[9]

测试用例设计方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

贺丽红 ;

崔炳林 ;

王阳 ;

方杰 ;

陈金毅 ;

王艳 ;

王巍 ;

李腾飞 .

中国专利 :CN117573533A ,2024-02-20

[10]

测试用例生成方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

潘进 ;

周睿 ;

熊邵军 ;

蔡夏丰 ;

张清 ;

李云涛 ;

李莉 ;

刘凯 ;

梁穆清 ;

高昌仁 ;

吴克乾 ;

徐泽宇 .

中国专利 :CN120277002A ,2025-07-08

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