测试用例回归方法、装置、设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011277814.1

申请日：

2020-11-16

公开(公告)号：

CN112380127B

公开(公告)日：

2021-02-19

发明(设计)人：

沈旭王芳杨晶晶

申请人：

申请人地址：

300450 天津市滨海新区华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

钟扬飞

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-02-19	公开	公开
2021-03-19	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:海光信息技术股份有限公司变更后:海光信息技术股份有限公司变更事项:地址变更前:100082 北京市海淀区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8 变更后:300450 天津市滨海新区华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
2021-03-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20201116
2022-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

测试用例回归方法、装置、设备及存储介质 [P].

张红兵 ;

刘洁 ;

曹铸 ;

苏衍浩 .

中国专利 :CN120653553A ,2025-09-16

[2]

回归测试用例排序的方法、装置、设备和存储介质 [P].

郭歆宇 ;

黄雨菲 .

中国专利 :CN115437960A ,2022-12-06

[3]

回归测试用例筛选方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

袁野 ;

李晨阳 .

中国专利 :CN119357059A ,2025-01-24

[4]

回归测试用例的确定方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

魏义鹏 ;

张泓 ;

李岚 ;

何宗倩 ;

祝君平 .

中国专利 :CN120448265A ,2025-08-08

[5]

回归测试用例确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李霞 ;

杨伟楠 .

中国专利 :CN109828909A ,2019-05-31

[6]

软件回归测试用例获取方法、装置及存储介质和电子设备 [P].

胡蕊利 .

中国专利 :CN107423214A ,2017-12-01

[7]

测试用例生成方法、装置、存储介质和测试设备 [P].

刘晓佳 ;

阮宜龙 ;

张云龙 .

中国专利 :CN117648248A ,2024-03-05

[8]

测试用例生成方法、装置、设备和存储介质 [P].

王志广 ;

黄伟 .

中国专利 :CN120316005A ,2025-07-15

[9]

测试用例生成方法、装置、设备和存储介质 [P].

金悦悦 ;

吴关 ;

张蕾 .

中国专利 :CN119025413A ,2024-11-26

[10]

测试用例生成方法、装置、设备和存储介质 [P].

谢鹏 .

中国专利 :CN120763057A ,2025-10-10

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