一种系统级芯片的修复测试评估方法、装置及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510702725.3

申请日：

2025-05-28

公开(公告)号：

CN120670232A

公开(公告)日：

2025-09-19

发明(设计)人：

张红兵刘洁曹铸苏衍浩

申请人：

济南迈威智能科技有限公司

申请人地址：

250000 山东省济南市高新区舜华路街道浪潮路1036号浪潮科技园S02楼32层3202室

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250

代理人：

李静玉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20250528
2025-09-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种系统级芯片的访问处理方法、系统级芯片及电子设备 [P].

吕敏 ;

王克行 ;

李健 .

中国专利 :CN117971707A ,2024-05-03

[2]

系统级芯片的设计方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

缪宇飏 ;

余子濠 ;

刘彤 ;

解壁伟 .

中国专利 :CN117521587A ,2024-02-06

[3]

系统级芯片的设计方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

缪宇飏 ;

余子濠 ;

刘彤 ;

解壁伟 .

中国专利 :CN117521587B ,2024-04-05

[4]

一种系统告警方法、装置及电子设备 [P].

贾博远 .

中国专利 :CN117749610A ,2024-03-22

[5]

一种系统级芯片的原型验证方法、装置及电子设备 [P].

陈贝 ;

满宏涛 ;

李长云 .

中国专利 :CN119271478A ,2025-01-07

[6]

一种系统级芯片总线验证方法、装置及电子设备 [P].

翁子清 ;

谢杨 ;

雷东峰 ;

师厚月 ;

章强 .

中国专利 :CN120524885A ,2025-08-22

[7]

一种芯片测试系统、方法和电子设备 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120629894A ,2025-09-12

[8]

系统级芯片及其测试方法、电子设备 [P].

杨超群 .

中国专利 :CN118780240A ,2024-10-15

[9]

一种系统测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

安甲舒 ;

刘锐 .

中国专利 :CN118331868A ,2024-07-12

[10]

系统测试方法、装置及电子设备 [P].

何青松 .

中国专利 :CN113821449A ,2021-12-21

← 1 2 3 4 5 →