测试用例生成方法、系统、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111539359.2

申请日：

2021-12-15

公开(公告)号：

CN114385486B

公开(公告)日：

2025-09-02

发明(设计)人：

谭锦志蔡亮彭志斌尚璇李伟

申请人：

杭州趣链科技有限公司

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区丹枫路399号2号楼A楼2001室

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

聂磊

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-02	授权	授权

共 50 条

[1]

测试用例生成方法、系统、电子设备和存储介质 [P].

谭锦志 ;

蔡亮 ;

彭志斌 ;

尚璇 ;

李伟 .

中国专利 :CN114385486A ,2022-04-22

[2]

测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

黄礼坤 ;

蒋剑琴 .

中国专利 :CN114201382A ,2022-03-18

[3]

测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

郑睿莘 .

中国专利 :CN113704083B ,2025-07-18

[4]

测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

黄万民 ;

陈振宇 ;

张晋桂 ;

郭超 ;

杨鹏 ;

郑海涛 ;

林怡坤 .

中国专利 :CN114048147B ,2022-02-15

[5]

测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

郑睿莘 .

中国专利 :CN113704083A ,2021-11-26

[6]

测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

焦佳成 .

中国专利 :CN115145812A ,2022-10-04

[7]

测试用例的生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李旺 ;

琚军军 ;

刘智琼 ;

王昌 ;

刘静 .

中国专利 :CN117389890A ,2024-01-12

[8]

测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

樊乘源 ;

杨柳 ;

吕亚杰 ;

李希博 .

中国专利 :CN120723621A ,2025-09-30

[9]

测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

林晓升 .

中国专利 :CN117827675A ,2024-04-05

[10]

测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

林晓升 .

中国专利 :CN117370190A ,2024-01-09

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