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测定装置以及其测定方法和测定程序
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202180046323.2
申请日
:
2021-06-30
公开(公告)号
:
CN115997107B
公开(公告)日
:
2025-09-02
发明(设计)人
:
山田朋辉
申请人
:
阿尔卑斯阿尔派株式会社
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01D3/00
IPC分类号
:
G06F3/041
G06F3/044
G01D3/032
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
刘文海
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-02
授权
授权
共 50 条
[1]
测定系统、测定装置、测定方法以及程序
[P].
长冈英一
论文数:
0
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0
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0
长冈英一
;
胜田敏広
论文数:
0
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0
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0
胜田敏広
.
中国专利
:CN113227719A
,2021-08-06
[2]
测定系统、测定装置、测定方法以及程序
[P].
长冈英一
论文数:
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机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
长冈英一
;
胜田敏広
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0
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0
机构:
株式会社堀场制作所
株式会社堀场制作所
胜田敏広
.
日本专利
:CN113227719B
,2024-09-24
[3]
测定装置、测定方法、以及测定程序
[P].
平野朝士
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平野朝士
;
樋口刚司
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樋口刚司
.
中国专利
:CN112261901A
,2021-01-22
[4]
测定装置、测定方法以及程序
[P].
石原元太郎
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机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
石原元太郎
;
松川弘明
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机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
松川弘明
.
日本专利
:CN118999783A
,2024-11-22
[5]
测定方法、测定装置以及程序
[P].
相川文明
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机构:
日本精工株式会社
日本精工株式会社
相川文明
;
丸山泰右
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机构:
日本精工株式会社
日本精工株式会社
丸山泰右
;
江波翔
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机构:
日本精工株式会社
日本精工株式会社
江波翔
.
日本专利
:CN119213288A
,2024-12-27
[6]
测定装置、测定方法以及程序
[P].
高地邦明
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机构:
JVC建伍株式会社
JVC建伍株式会社
高地邦明
;
村田寿子
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机构:
JVC建伍株式会社
JVC建伍株式会社
村田寿子
;
押领司诚
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机构:
JVC建伍株式会社
JVC建伍株式会社
押领司诚
;
春川阳一
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机构:
JVC建伍株式会社
JVC建伍株式会社
春川阳一
;
海和彻
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机构:
JVC建伍株式会社
JVC建伍株式会社
海和彻
;
内田孝之
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机构:
JVC建伍株式会社
JVC建伍株式会社
内田孝之
.
日本专利
:CN119212616A
,2024-12-27
[7]
测定装置、测定方法、以及程序
[P].
坂上智
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坂上智
;
木代雅巳
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木代雅巳
;
新井聪一
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新井聪一
.
中国专利
:CN107278264A
,2017-10-20
[8]
测定装置、测定方法以及程序
[P].
北川雄真
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机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
北川雄真
;
猿谷敏之
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机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
猿谷敏之
.
日本专利
:CN120721679A
,2025-09-30
[9]
测定装置、测定系统、测定方法以及程序
[P].
户田启介
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户田启介
;
松永翔吾
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松永翔吾
.
中国专利
:CN114585302A
,2022-06-03
[10]
测定装置、测定系统、测定方法以及程序
[P].
松永翔吾
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松永翔吾
;
户田启介
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户田启介
;
伊藤广繁
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伊藤广繁
;
堀之内直树
论文数:
0
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堀之内直树
.
中国专利
:CN113597536A
,2021-11-02
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