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芯片测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202422468275.X
申请日：
2024-10-12
公开(公告)号：
CN223401007U
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
王伟君
刘寅
李步民
申请人：
芯云纵横半导体（上海）有限公司
申请人地址：
201206 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区丹桂路835、937号主楼（1幢）411室
IPC主分类号：
G01R31/311
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
张海英
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-09-30 | 授权 | 授权 |