缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510888554.8

申请日：

2025-06-30

公开(公告)号：

CN120782736A

公开(公告)日：

2025-10-14

发明(设计)人：

请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名

申请人：

深存科技（无锡）有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市新吴区弘毅路10号金乾座401、402室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/62 G06T7/73 G06T11/40 G06T5/70 G06V10/52 G06V10/764 G06V10/774 G06V10/82 G06N3/0455 G06N3/0464

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260

代理人：

葛莉华

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省无锡市

引用

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共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄耀 ;

胡中慧 .

中国专利 :CN114155244B ,2022-03-08

[2]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

莫承见 ;

曾莹 ;

高映军 ;

张伟贤 .

中国专利 :CN120236113A ,2025-07-01

[3]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

王昌安 .

中国专利 :CN117197134B ,2024-11-01

[4]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

辛悦悦 ;

郭峰林 ;

张正林 ;

杜艾卿 ;

孙颖 ;

彭朱静 ;

窦伟 ;

綦凯达 .

中国专利 :CN117252824B ,2025-10-31

[5]

缺陷检测模型训练和缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

张发恩 ;

孙天齐 ;

袁智超 ;

陆强 .

中国专利 :CN111784673A ,2020-10-16

[6]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P].

郑贤超 ;

葛亮 .

中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05

[7]

工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

吴雨培 ;

王少成 .

中国专利 :CN117474904A ,2024-01-30

[8]

工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

吴雨培 ;

王少成 .

中国专利 :CN117474904B ,2024-03-12

[9]

车辆缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郭小洋 ;

毛永波 ;

韦晓全 .

中国专利 :CN119251127A ,2025-01-03

[10]

缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

王海洋 .

中国专利 :CN110599484B ,2019-12-20

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-14	公开	公开
2025-10-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250630