缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311870087.3
申请日
2023-12-29
公开(公告)号
CN120236113A
公开(公告)日
2025-07-01
发明(设计)人
莫承见 曾莹 高映军 张伟贤
申请人
维谛技术有限公司
申请人地址
518055 广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园B2栋
IPC主分类号
G06V10/764
IPC分类号
G06V10/774 G06V10/82 G06V10/52 G06T7/00 G06N3/045 G06N3/084 G06V10/25
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
陈亚男;臧建明
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王昌安 .
中国专利 :CN117197134B ,2024-11-01
[2]
缺陷检测方法及装置、计算机设备、存储介质 [P]. 
谭毅 ;
胡建强 ;
马超 ;
唐博 ;
束家龙 ;
雷屹坤 .
中国专利 :CN119130955A ,2024-12-13
[3]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120782736A ,2025-10-14
[4]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
辛悦悦 ;
郭峰林 ;
张正林 ;
杜艾卿 ;
孙颖 ;
彭朱静 ;
窦伟 ;
綦凯达 .
中国专利 :CN117252824B ,2025-10-31
[5]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P]. 
郑贤超 ;
葛亮 .
中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05
[6]
焊锡缺陷检测方法、检测装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王本欣 ;
王子豪 ;
肖顶奎 .
中国专利 :CN120411109A ,2025-08-01
[7]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张鑫 ;
宋梦琦 ;
韦鹏辉 ;
张武杰 .
中国专利 :CN120725970A ,2025-09-30
[8]
工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
吴雨培 ;
王少成 .
中国专利 :CN117474904A ,2024-01-30
[9]
工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
吴雨培 ;
王少成 .
中国专利 :CN117474904B ,2024-03-12
[10]
缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质 [P]. 
黄耀 ;
陶斯琴 ;
吴雨培 ;
李其乐 .
中国专利 :CN111598863A ,2020-08-28