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一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510748460.0
申请日：
2025-06-05
公开(公告)号：
CN120725970A
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
张鑫 宋梦琦 韦鹏辉 张武杰
申请人：
中科慧远视觉技术（洛阳）有限公司 中科慧远视觉技术（北京）有限公司
申请人地址：
471000 河南省洛阳市中国(河南)自由贸易试验区洛阳片区涧西区蓬莱路2号洛阳国家大学科技园5幢101室、202室
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06V10/22 G06V10/764 G06V10/774 G06N5/01
代理机构：
北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734
代理人：
李维凤
法律状态：
公开
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-30 公开 公开
2025-10-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250605
共 50 条
[1]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
莫承见 ;
曾莹 ;
高映军 ;
张伟贤 .
中国专利 :CN120236113A ,2025-07-01
[2]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120782736A ,2025-10-14
[3]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王昌安 .
中国专利 :CN117197134B ,2024-11-01
[4]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
辛悦悦 ;
郭峰林 ;
张正林 ;
杜艾卿 ;
孙颖 ;
彭朱静 ;
窦伟 ;
綦凯达 .
中国专利 :CN117252824B ,2025-10-31
[5]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117372424A ,2024-01-09
[6]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117372424B ,2024-03-08
[7]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117576109A ,2024-02-20
[8]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117576109B ,2024-04-02
[9]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
陈晓琳 ;
褚哲 ;
陈一聪 ;
何淼 ;
赵康宁 ;
梁鑫杰 .
中国专利 :CN120635652A ,2025-09-12
[10]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P]. 
郑贤超 ;
葛亮 .
中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05
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