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基于缺陷检测模型的缺陷检测方法和装置、程序产品

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510946024.4
申请日：
2025-07-09
公开(公告)号：
CN120765621A
公开(公告)日：
2025-10-10
发明(设计)人：
曾利宏 杨洋 黄淦 翟爱亭
申请人：
深圳市华汉伟业科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区同发南路万科云城六期二栋1702房-1706房
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06V10/77 G06V10/82 G06V10/80 G06V10/44 G06N3/0455 G06N3/0464
代理机构：
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281
代理人：
陈树锴;彭家恩
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-10 公开 公开
2025-10-28 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250709
共 50 条
[1]
缺陷检测模型的训练和缺陷检测方法及其装置 [P]. 
蒋哲兴 ;
张滨 ;
韩树民 ;
陈松 .
中国专利 :CN116596916B ,2024-08-06
[2]
缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P]. 
辻本翔悟 .
日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14
[3]
基于YOLO模型改进缺陷检测模型方法、缺陷检测方法与系统 [P]. 
石汉青 ;
李明仁 ;
温仙进 ;
陈文哲 .
中国专利 :CN119919363A ,2025-05-02
[4]
缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法和装置 [P]. 
张黎 .
中国专利 :CN119919754A ,2025-05-02
[5]
产品缺陷检测方法、设备、介质和程序产品 [P]. 
张赛 ;
宿传睿 .
中国专利 :CN120543544A ,2025-08-26
[6]
产品缺陷检测方法、设备、介质和程序产品 [P]. 
张赛 ;
宿传睿 .
中国专利 :CN120543544B ,2025-10-10
[7]
缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法及相关装置 [P]. 
曲世辰 ;
陶显 ;
屈震 .
中国专利 :CN119295854A ,2025-01-10
[8]
缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法及相关装置 [P]. 
曲世辰 ;
陶显 ;
屈震 .
中国专利 :CN119295854B ,2025-10-17
[9]
产品缺陷检测方法和装置 [P]. 
卞庆林 ;
郭骏 ;
潘正颐 ;
侯大为 ;
倪文渊 .
中国专利 :CN113888542A ,2022-01-04
[10]
缺陷检测模型训练方法、装置和缺陷检测方法、装置 [P]. 
张文超 ;
张一凡 ;
冯扬扬 ;
刘杰 .
中国专利 :CN113674203A ,2021-11-19
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