系统级芯片的低功耗验证方法、系统、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411196279.5

申请日：

2024-08-29

公开(公告)号：

CN119179614B

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

孙成思何瀚王灿楼煌辉李想

申请人：

杭州芯势力半导体有限公司

申请人地址：

311200 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区建设二路858号集成电路设计产业园D幢308室

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

江进

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-24	公开	公开
2025-09-30	授权	授权
2025-01-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240829

共 50 条

[1]

系统级芯片的低功耗验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

楼煌辉 ;

李想 .

中国专利 :CN119179614A ,2024-12-24

[2]

低功耗方案的验证方法、装置、系统、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN121116504A ,2025-12-12

[3]

芯片的低功耗验证方法、装置、设备及存储介质 [P].

覃贵礼 .

中国专利 :CN114861594B ,2022-08-05

[4]

芯片的低功耗系统、低功耗管理方法、控制装置及存储介质 [P].

李濛 ;

李德建 ;

李建阳 ;

王于波 ;

孟娇 ;

成嵩 ;

冯曦 ;

李娜 .

中国专利 :CN114442788A ,2022-05-06

[5]

低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

索健 .

中国专利 :CN113723033B ,2025-03-04

[6]

低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

索健 .

中国专利 :CN113723033A ,2021-11-30

[7]

芯片寄存器的系统级验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

杨静 ;

邵海波 ;

乐亚平 .

中国专利 :CN114330177A ,2022-04-12

[8]

芯片寄存器的系统级验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

杨静 ;

邵海波 ;

乐亚平 .

中国专利 :CN114330177B ,2025-06-06

[9]

多核芯片低功耗模式的验证系统 [P].

周彦武 ;

冷勇 ;

冯华 ;

刘功哲 ;

陈洁 .

中国专利 :CN119647364A ,2025-03-18

[10]

降低功耗的方法、设备、系统及存储介质 [P].

夏欣 .

中国专利 :CN115699905A ,2023-02-03

← 1 2 3 4 5 →