光器件测试的运料机构

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310190606.5
申请日
2021-11-04
公开(公告)号
CN116374616B
公开(公告)日
2025-09-30
发明(设计)人
黄建军 吴永红 赵山 胡海洋
申请人
苏州联讯仪器股份有限公司
申请人地址
215007 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号
B65G47/91
IPC分类号
代理机构
苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697
代理人
王健
法律状态
授权
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
光器件测试用芯片运送机构 [P]. 
黄建军 ;
吴永红 ;
赵山 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN114615824A ,2022-06-10
[2]
用于芯片测试的自动运料模组 [P]. 
黄建军 ;
吴永红 ;
赵山 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN115092683A ,2022-09-23
[3]
光模块芯片的自动测试机构 [P]. 
黄建军 ;
吴永红 ;
赵山 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN114650665A ,2022-06-21
[4]
光模块芯片的自动测试机构 [P]. 
黄建军 ;
吴永红 ;
赵山 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN114650665B ,2024-06-04
[5]
光器件破坏性测试固定机构 [P]. 
马小立 ;
朱大利 ;
黄文伟 ;
司马卫武 .
中国专利 :CN209043576U ,2019-06-28
[6]
光器件和测试光器件的方法 [P]. 
杉山昌树 .
中国专利 :CN113325513A ,2021-08-31
[7]
光器件、使用光器件的光模块、光器件测试方法 [P]. 
杉山昌树 .
中国专利 :CN110554456A ,2019-12-10
[8]
用于通讯芯片加工的吸附运料装置 [P]. 
黄建军 ;
吴永红 ;
赵山 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN216582988U ,2022-05-24
[9]
光器件测试保护电路及光器件测试系统 [P]. 
刘伟 ;
许远忠 ;
张强 ;
姚娜 ;
熊伟霖 ;
李惠敏 .
中国专利 :CN118275744B ,2024-07-30
[10]
光器件测试保护电路及光器件测试系统 [P]. 
刘伟 ;
许远忠 ;
张强 ;
姚娜 ;
熊伟霖 ;
李惠敏 .
中国专利 :CN118275744A ,2024-07-02