表面粗糙度分析系统和分析工件的表面粗糙度的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110228971.1

申请日：

2021-03-02

公开(公告)号：

CN113340242B

公开(公告)日：

2025-10-10

发明(设计)人：

S·M·贾汉宾 J-B·伊努 G·E·乔治森 N·A·德赛

申请人：

波音公司

申请人地址：

美国伊利诺伊州

IPC主分类号：

G01B17/08

IPC分类号：

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司 11245

代理人：

魏利娜

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	授权	授权

共 50 条

[1]

表面粗糙度分析系统和分析工件的表面粗糙度的方法 [P].

S·M·贾汉宾 ;

J-B·伊努 ;

G·E·乔治森 ;

N·A·德赛 .

中国专利 :CN113340242A ,2021-09-03

[2]

分析薄膜表面粗糙度的方法 [P].

陈瑞兴 .

中国专利 :CN100394162C ,2004-08-11

[3]

表面粗糙度测量辅助支架以及表面粗糙度测量系统 [P].

韩朝 ;

邓郴 ;

孙超 ;

王艺娜 ;

张正 ;

申开颜 ;

苏华运 ;

尹士平 ;

唐莉 ;

高静 .

中国专利 :CN223076664U ,2025-07-08

[4]

表面粗糙度的测量 [P].

J·帕尔马尔 ;

C·伦纳茨 ;

S·纳普 ;

P·费耶斯 .

德国专利 :CN121219550A ,2025-12-26

[5]

表面粗糙度应用 [P].

S·冈萨雷斯马丁 ;

M·博拉斯卡马拉萨 ;

J·阿尔马塞拉斯维萨 .

中国专利 :CN115103756A ,2022-09-23

[6]

表面粗糙度仪器 [P].

夏建平 .

中国专利 :CN309267834S ,2025-05-02

[7]

表面粗糙度测量 [P].

瓦达克·马萨姆·穆鲁克山 ;

帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦 ;

安思文·哈瑞达斯 ;

普尔基特·卡普尔 ;

比拉尔·M·纳塞尔 ;

凯尔文·H·K·陈 .

中国专利 :CN111412868A ,2020-07-14

[8]

降低表面粗糙度的方法 [P].

E·布雷 ;

L·埃尔卡诺 .

中国专利 :CN1524289A ,2004-08-25

[9]

表面粗糙度检查装置 [P].

林义典 ;

森秀树 .

中国专利 :CN101326622A ,2008-12-17

[10]

表面粗糙度仪 [P].

杨庆德 ;

邓博 ;

周林 .

中国专利 :CN302930262S ,2014-09-03

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