一种存储芯片、修复方法及相关设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410389982.1

申请日：

2024-03-29

公开(公告)号：

CN120727070A

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

许团辉

申请人：

华为技术有限公司

申请人地址：

518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

IPC主分类号：

G11C29/44

IPC分类号：

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

陈聪

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于测试设备的存储芯片的修复方法 [P].

潘志富 ;

刘金海 ;

李海涛 ;

郭琦 ;

何肖珉 .

中国专利 :CN117727356A ,2024-03-19

[2]

一种基于测试设备的存储芯片的修复方法 [P].

潘志富 ;

刘金海 ;

李海涛 ;

郭琦 ;

何肖珉 .

中国专利 :CN117727356B ,2024-05-07

[3]

修复存储芯片的方法和装置、存储芯片 [P].

苏志强 ;

舒清明 .

中国专利 :CN102610280B ,2012-07-25

[4]

存储芯片、存储设备及存储芯片使用方法 [P].

李志雄 ;

李中政 ;

吴方 ;

胡宏辉 ;

何宏 .

中国专利 :CN103268775A ,2013-08-28

[5]

一种存储芯片制备方法及存储芯片结构 [P].

于志猛 ;

陈桂霖 ;

于亚荣 ;

何世坤 .

中国专利 :CN118613137A ,2024-09-06

[6]

基于测试设备的存储芯片个性化修复方法 [P].

潘志富 ;

郭琦 ;

薛如军 ;

张悦 ;

杨爱民 ;

朱超 .

中国专利 :CN119889414B ,2025-06-03

[7]

基于测试设备的存储芯片个性化修复方法 [P].

潘志富 ;

郭琦 ;

薛如军 ;

张悦 ;

杨爱民 ;

朱超 .

中国专利 :CN119889414A ,2025-04-25

[8]

一种存储芯片的修复方法及装置、计算机存储介质 [P].

倪文彬 .

中国专利 :CN117912529A ,2024-04-19

[9]

存储芯片、存储芯片操作方法、存储设备及电子设备 [P].

马平 ;

涂洒 ;

李响 ;

杨哲 ;

李天宇 .

中国专利 :CN119229931A ,2024-12-31

[10]

存储芯片测试方法、存储装置检测方法及相关设备 [P].

程景伟 .

中国专利 :CN117935887A ,2024-04-26

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