光刻模型的建立方法、装置、设备、介质及产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411746154.5
申请日
2024-11-29
公开(公告)号
CN119356040B
公开(公告)日
2025-10-10
发明(设计)人
管小飞
申请人
东方晶源微电子科技(上海)有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
G03F7/20
IPC分类号
代理机构
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
彭琼
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
光刻模型的建立方法、装置、设备、介质及产品 [P]. 
管小飞 .
中国专利 :CN119356040A ,2025-01-24
[2]
光刻模型建立方法、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
江畅 ;
王航宇 .
中国专利 :CN119514357B ,2025-12-12
[3]
光刻模型建立方法、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
江畅 ;
王航宇 .
中国专利 :CN119514357A ,2025-02-25
[4]
一种光刻胶模型的建立方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邵相军 .
中国专利 :CN117518735A ,2024-02-06
[5]
一种光刻模型构建方法、设备、介质及产品 [P]. 
丁明 ;
夏轲 .
中国专利 :CN119937256A ,2025-05-06
[6]
OPC仿真模型的建立方法 [P]. 
黄冠宏 ;
陈咏翔 ;
曾鼎程 ;
范富杰 ;
胡展源 .
中国专利 :CN120178591A ,2025-06-20
[7]
一种光刻模型建立方法、系统以及版图图形修正方法 [P]. 
舒亮 .
中国专利 :CN117724303A ,2024-03-19
[8]
光刻模型的校准方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120507945B ,2025-09-30
[9]
光刻模型的校准方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120507945A ,2025-08-19
[10]
与光刻模型有关的方法、设备和介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118707815A ,2024-09-27