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光检测装置和电子设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202480014335.0
申请日：
2024-01-19
公开(公告)号：
CN120753024A
公开(公告)日：
2025-10-03
发明(设计)人：
坂梨昂平 三宅慎一
申请人：
索尼半导体解决方案公司
申请人地址：
日本神奈川县
IPC主分类号：
H10F39/18
IPC分类号：
H04N25/70 H04N25/79
代理机构：
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人：
房岭梅;姚鹏
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-03 公开 公开
共 50 条
[1]
光检测装置和电子设备 [P]. 
米田和弘 ;
大长央 ;
福永寛 ;
大竹悠介 ;
远藤表徳 ;
中泽圭一 ;
大石秀俊 .
日本专利 :CN118302861A ,2024-07-05
[2]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山下浩史 ;
冨田知大 ;
田中晴美 .
日本专利 :CN118866922A ,2024-10-29
[3]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山下浩史 ;
冨田知大 ;
田中晴美 .
日本专利 :CN118866923A ,2024-10-29
[4]
光检测器和电子设备 [P]. 
城户英男 ;
町田贵志 ;
吉田辽人 ;
椎原由宇 ;
酒井大树 ;
小川大和 .
日本专利 :CN120753023A ,2025-10-03
[5]
光检测器和电子设备 [P]. 
高柳良平 ;
龟谷真知子 ;
山本敦彦 .
日本专利 :CN120883753A ,2025-10-31
[6]
光检测装置及电子设备 [P]. 
小野健太 ;
甲斐孝之 ;
八并由实 ;
小泽裕幸 .
日本专利 :CN120917768A ,2025-11-07
[7]
光检测装置和电子设备 [P]. 
青田智也 ;
坂东雅史 ;
熊谷至通 ;
大泽尚幸 ;
阿部高志 ;
秋山竣哉 .
日本专利 :CN120677713A ,2025-09-19
[8]
光检测装置和电子设备 [P]. 
中西骏太 ;
服部祐树 ;
饭田聡子 ;
最上耀介 ;
白井友基 .
日本专利 :CN118715617A ,2024-09-27
[9]
光检测装置和电子设备 [P]. 
三木保久登 ;
田中晴美 ;
三好康史 ;
林利彦 .
日本专利 :CN120883751A ,2025-10-31
[10]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山岸肇 .
日本专利 :CN120202741A ,2025-06-24
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