光检测装置和电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410942558.5
申请日
2022-03-09
公开(公告)号
CN118866923A
公开(公告)日
2024-10-29
发明(设计)人
山下浩史 冨田知大 田中晴美
申请人
索尼半导体解决方案公司
申请人地址
日本神奈川县
IPC主分类号
H01L27/146
IPC分类号
H04N25/77 H04N25/70
代理机构
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人
陈桂香;姚鹏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山下浩史 ;
冨田知大 ;
田中晴美 .
日本专利 :CN118866922A ,2024-10-29
[2]
光检测装置和电子设备 [P]. 
坂梨昂平 ;
三宅慎一 .
日本专利 :CN120753024A ,2025-10-03
[3]
光检测装置和电子设备 [P]. 
内田哲弥 ;
平野智之 ;
铃木亮司 .
日本专利 :CN118299390A ,2024-07-05
[4]
光检测装置和电子设备 [P]. 
松本晃 .
日本专利 :CN119908182A ,2025-04-29
[5]
光检测装置和电子设备 [P]. 
三木保久登 ;
田中晴美 ;
三好康史 ;
林利彦 .
日本专利 :CN120883751A ,2025-10-31
[6]
光检测装置和电子设备 [P]. 
吉田悟 ;
岛田翔平 ;
加贺谷司 ;
米田和弘 ;
户田淳 .
日本专利 :CN120240009A ,2025-07-01
[7]
光检测装置和电子设备 [P]. 
米田和弘 ;
大长央 ;
福永寛 ;
大竹悠介 ;
远藤表徳 ;
中泽圭一 ;
大石秀俊 .
日本专利 :CN118302861A ,2024-07-05
[8]
光检测装置和电子设备 [P]. 
河合信宏 ;
富樫秀晃 ;
古闲史彦 ;
山口哲司 ;
平田晋太郎 ;
渡部泰一郎 ;
安藤良洋 .
日本专利 :CN118448429A ,2024-08-06
[9]
光检测装置和电子设备 [P]. 
德满千绘 .
日本专利 :CN120660461A ,2025-09-16
[10]
光检测装置和电子设备 [P]. 
西冈裕太 .
日本专利 :CN117941070A ,2024-04-26