光检测装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380079397.5

申请日：

2023-11-01

公开(公告)号：

CN120240009A

公开(公告)日：

2025-07-01

发明(设计)人：

吉田悟岛田翔平加贺谷司米田和弘户田淳

申请人：

索尼半导体解决方案公司

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

H10F39/18

IPC分类号：

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

梁兴龙;姚鹏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H10F 39/18申请日:20231101
2025-07-01	公开	公开

共 50 条

[1]

光检测装置和电子设备 [P].

山下浩史 ;

冨田知大 ;

田中晴美 .

日本专利 :CN118866922A ,2024-10-29

[2]

光检测装置和电子设备 [P].

山下浩史 ;

冨田知大 ;

田中晴美 .

日本专利 :CN118866923A ,2024-10-29

[3]

光检测装置和电子设备 [P].

坂梨昂平 ;

三宅慎一 .

日本专利 :CN120753024A ,2025-10-03

[4]

光检测装置和电子设备 [P].

孙彬 .

中国专利 :CN118936629A ,2024-11-12

[5]

光检测装置和电子设备 [P].

熊谷至通 ;

坂东雅史 ;

秋山竣哉 ;

岛田光基 ;

大浦雅史 ;

渡部大树 ;

松本直之 .

日本专利 :CN120693882A ,2025-09-23

[6]

光检测装置及电子设备 [P].

白坂康之 ;

平松卓磨 .

中国专利 :CN107430208A ,2017-12-01

[7]

光检测装置及电子设备 [P].

小野健太 ;

甲斐孝之 ;

八并由实 ;

小泽裕幸 .

日本专利 :CN120917768A ,2025-11-07

[8]

光检测装置和电子设备 [P].

内田哲弥 .

日本专利 :CN119817193A ,2025-04-11

[9]

光检测装置和电子设备 [P].

今井慎一 ;

野中信 ;

盐山正真 .

日本专利 :CN120827006A ,2025-10-21

[10]

光检测装置和电子设备 [P].

河合信宏 ;

富樫秀晃 ;

古闲史彦 ;

山口哲司 ;

平田晋太郎 ;

渡部泰一郎 ;

安藤良洋 .

日本专利 :CN118471994A ,2024-08-09

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