一种银线缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510870291.8

申请日：

2025-06-26

公开(公告)号：

CN120765579A

公开(公告)日：

2025-10-10

发明(设计)人：

任璐徐智忠王爽林涛

申请人：

北京电子量检测装备有限责任公司

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维工业园B区B5栋

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/62 G06V10/82

代理机构：

北京轻创知识产权代理有限公司 11212

代理人：

杨立

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	公开	公开
2025-10-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250626

共 50 条

[1]

木板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

温志平 ;

杨磊 .

中国专利 :CN114418974A ,2022-04-29

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862B ,2024-04-12

[4]

板材图像的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李芦峰 ;

苟正锋 ;

王振 ;

翟丽萍 ;

李睿丰 ;

吴霞 .

中国专利 :CN117911317A ,2024-04-19

[5]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[7]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[8]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘阳兴 ;

郭中原 ;

李培鹏 .

中国专利 :CN113240673B ,2021-08-10

[10]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

胡流彬 ;

肖寒琼 ;

范振亮 ;

张修龙 ;

刘衍忠 .

中国专利 :CN117495773A ,2024-02-02

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