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半导体器件的测试探针台
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202422430240.7
申请日：
2024-10-09
公开(公告)号：
CN223426732U
公开(公告)日：
2025-10-10
发明(设计)人：
周伟
郑轩志
申请人：
深圳市赢合智慧科技有限公司
申请人地址：
518101 广东省深圳市宝安区新安街道海滨社区N26区海秀路2021号荣超滨海大厦A座
IPC主分类号：
G01R1/067
IPC分类号：
G01R31/26
代理机构：
苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697
代理人：
王健
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-10-10 | 授权 | 授权 |