功能测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510904981.0

申请日：

2025-07-01

公开(公告)号：

CN120723651A

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

胡兴航李世云刘小琳孟月邵晓伟

申请人：

阿维塔科技（重庆）有限公司

申请人地址：

401123 重庆市渝北区两江新区康美街道紫竹路101号11幢

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

禹超;臧建明

法律状态：

公开

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	公开	公开
2025-10-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250701

共 50 条

[1]

功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

唐牧 ;

杨馨悦 ;

刘子凡 .

中国专利 :CN120801843A ,2025-10-17

[2]

功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

常鹏飞 .

中国专利 :CN115374010A ,2022-11-22

[3]

设备功能测试方法、装置及可读存储介质 [P].

龚志勇 .

中国专利 :CN108228407A ,2018-06-29

[4]

手机功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

文仙怡 ;

张维 .

中国专利 :CN120123134A ,2025-06-10

[5]

功能测试方法、装置及存储介质 [P].

许简 ;

陈玉军 ;

杨萍 ;

张钊 ;

曹豹 ;

邵珊珊 ;

杨睿智 .

中国专利 :CN117827624A ,2024-04-05

[6]

端口MTU功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

冯伟 ;

郑重金 .

中国专利 :CN120639651A ,2025-09-12

[7]

功能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈玺 .

中国专利 :CN115408211A ,2022-11-29

[8]

芯片网络功能测试方法、装置、存储介质及设备 [P].

刘署 ;

徐宏思 ;

桂晓峰 ;

李育飞 .

中国专利 :CN112653595B ,2021-04-13

[9]

QinQ功能测试方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

冯伟 ;

刘志龙 .

中国专利 :CN119071189A ,2024-12-03

[10]

QinQ功能测试方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

冯伟 ;

刘志龙 .

中国专利 :CN119071189B ,2025-02-18

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