芯片网络功能测试方法、装置、存储介质及设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011482378.1
申请日
2020-12-15
公开(公告)号
CN112653595B
公开(公告)日
2021-04-13
发明(设计)人
刘署 徐宏思 桂晓峰 李育飞
申请人
申请人地址
610041 四川省成都市高新区天府大道中段1366号2栋天府软件园E5座11层22-31号
IPC主分类号
H04L430817
IPC分类号
H04L4350
代理机构
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237
代理人
张仲波
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
吴志宇 ;
高日茂 ;
王大中 .
中国专利 :CN117331764A ,2024-01-02
[2]
功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
常鹏飞 .
中国专利 :CN115374010A ,2022-11-22
[3]
功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
唐牧 ;
杨馨悦 ;
刘子凡 .
中国专利 :CN120801843A ,2025-10-17
[4]
功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
胡兴航 ;
李世云 ;
刘小琳 ;
孟月 ;
邵晓伟 .
中国专利 :CN120723651A ,2025-09-30
[5]
芯片功能测试方法、装置和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117873900A ,2024-04-12
[6]
网络地址转换功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
冯伟 ;
郑重金 .
中国专利 :CN121173780A ,2025-12-19
[7]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
史云龙 ;
程之龙 ;
刘岩 ;
范凯毓 .
中国专利 :CN120743645A ,2025-10-03
[8]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邱军龙 ;
周欢驰 ;
虢政 ;
常建宏 ;
李秉鑫 ;
毕开颜 .
中国专利 :CN120723557A ,2025-09-30
[9]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
古城 .
中国专利 :CN114624575B ,2025-05-27
[10]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
古城 .
中国专利 :CN114624575A ,2022-06-14