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芯片网络功能测试方法、装置、存储介质及设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011482378.1
申请日
:
2020-12-15
公开(公告)号
:
CN112653595B
公开(公告)日
:
2021-04-13
发明(设计)人
:
刘署
徐宏思
桂晓峰
李育飞
申请人
:
申请人地址
:
610041 四川省成都市高新区天府大道中段1366号2栋天府软件园E5座11层22-31号
IPC主分类号
:
H04L430817
IPC分类号
:
H04L4350
代理机构
:
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237
代理人
:
张仲波
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-30
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 12/26 申请日:20201215
2021-04-13
公开
公开
2022-08-12
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片功能测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
吴志宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
吴志宇
;
高日茂
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机构:
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
高日茂
;
王大中
论文数:
0
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0
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0
机构:
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
王大中
.
中国专利
:CN117331764A
,2024-01-02
[2]
功能测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
常鹏飞
论文数:
0
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0
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0
常鹏飞
.
中国专利
:CN115374010A
,2022-11-22
[3]
功能测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
唐牧
论文数:
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
唐牧
;
杨馨悦
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
杨馨悦
;
刘子凡
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
刘子凡
.
中国专利
:CN120801843A
,2025-10-17
[4]
功能测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
胡兴航
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
胡兴航
;
李世云
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
李世云
;
刘小琳
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
刘小琳
;
孟月
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
孟月
;
邵晓伟
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机构:
阿维塔科技(重庆)有限公司
阿维塔科技(重庆)有限公司
邵晓伟
.
中国专利
:CN120723651A
,2025-09-30
[5]
芯片功能测试方法、装置和存储介质
[P].
请求不公布姓名
论文数:
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机构:
摩尔线程智能科技(北京)有限责任公司
摩尔线程智能科技(北京)有限责任公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN117873900A
,2024-04-12
[6]
网络地址转换功能测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
冯伟
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机构:
深圳市丰润达科技有限公司
深圳市丰润达科技有限公司
冯伟
;
郑重金
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机构:
深圳市丰润达科技有限公司
深圳市丰润达科技有限公司
郑重金
.
中国专利
:CN121173780A
,2025-12-19
[7]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
史云龙
论文数:
0
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
史云龙
;
程之龙
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0
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
程之龙
;
刘岩
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
刘岩
;
范凯毓
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
范凯毓
.
中国专利
:CN120743645A
,2025-10-03
[8]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
邱军龙
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
邱军龙
;
周欢驰
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
周欢驰
;
虢政
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
虢政
;
常建宏
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
常建宏
;
李秉鑫
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
李秉鑫
;
毕开颜
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
毕开颜
.
中国专利
:CN120723557A
,2025-09-30
[9]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
古城
论文数:
0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
古城
.
中国专利
:CN114624575B
,2025-05-27
[10]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
古城
论文数:
0
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0
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0
古城
.
中国专利
:CN114624575A
,2022-06-14
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