一种芯片功能测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311269371.5

申请日：

2023-09-27

公开(公告)号：

CN117331764A

公开(公告)日：

2024-01-02

发明(设计)人：

吴志宇高日茂王大中

申请人：

山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司

申请人地址：

250101 山东省济南市自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/26

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

陈玮

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20230927
2024-01-02	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片网络功能测试方法、装置、存储介质及设备 [P].

刘署 ;

徐宏思 ;

桂晓峰 ;

李育飞 .

中国专利 :CN112653595B ,2021-04-13

[2]

一种芯片测试的方法、装置、设备及存储介质 [P].

王大中 ;

陈静静 .

中国专利 :CN118519844A ,2024-08-20

[3]

功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

常鹏飞 .

中国专利 :CN115374010A ,2022-11-22

[4]

功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

唐牧 ;

杨馨悦 ;

刘子凡 .

中国专利 :CN120801843A ,2025-10-17

[5]

功能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

胡兴航 ;

李世云 ;

刘小琳 ;

孟月 ;

邵晓伟 .

中国专利 :CN120723651A ,2025-09-30

[6]

芯片功能测试方法、装置和存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117873900A ,2024-04-12

[7]

一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

彭义青 ;

冼平东 ;

黄明春 ;

李海龙 ;

黄为民 ;

王明亮 ;

曾海侨 ;

谭建军 .

中国专利 :CN119199487A ,2024-12-27

[8]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

史云龙 ;

程之龙 ;

刘岩 ;

范凯毓 .

中国专利 :CN120743645A ,2025-10-03

[9]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

邱军龙 ;

周欢驰 ;

虢政 ;

常建宏 ;

李秉鑫 ;

毕开颜 .

中国专利 :CN120723557A ,2025-09-30

[10]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

古城 .

中国专利 :CN114624575B ,2025-05-27

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