芯片测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210195949.6

申请日：

2022-03-01

公开(公告)号：

CN114624575B

公开(公告)日：

2025-05-27

发明(设计)人：

古城

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G01R31/3183

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-27	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

古城 .

中国专利 :CN114624575A ,2022-06-14

[2]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23

[3]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454A ,2022-04-05

[4]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

史云龙 ;

程之龙 ;

刘岩 ;

范凯毓 .

中国专利 :CN120743645A ,2025-10-03

[5]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

邱军龙 ;

周欢驰 ;

虢政 ;

常建宏 ;

李秉鑫 ;

毕开颜 .

中国专利 :CN120723557A ,2025-09-30

[6]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

欧永明 .

中国专利 :CN120652255A ,2025-09-16

[7]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

隋明月 ;

杨泽坤 ;

楚志华 ;

李安平 ;

李晓白 .

中国专利 :CN119438855A ,2025-02-14

[8]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

姜嘉欢 ;

张超 ;

刘世军 ;

郭建璞 ;

王英华 ;

张磊 ;

吕林君 .

中国专利 :CN115629296A ,2023-01-20

[9]

芯片测试方法、装置、存储介质及设备 [P].

吴义桂 ;

何骁伟 ;

杨国文 ;

季宿儒 ;

张清华 .

中国专利 :CN112782560A ,2021-05-11

[10]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

丁赛赛 ;

仰蕾 ;

熊世英 ;

封芳 ;

许崇 .

中国专利 :CN115437866A ,2022-12-06

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