芯片测试方法、装置、设备及存储介质

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申请号
CN202210195949.6
申请日
2022-03-01
公开(公告)号
CN114624575A
公开(公告)日
2022-06-14
发明(设计)人
古城
申请人
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
G01R313183
IPC分类号
代理机构
北京名华博信知识产权代理有限公司 11453
代理人
苗源
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
古城 .
中国专利 :CN114624575B ,2025-05-27
[2]
芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P]. 
孙军凯 ;
张柯 ;
孟祥刚 ;
蒋曦 .
中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23
[3]
芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P]. 
孙军凯 ;
张柯 ;
孟祥刚 ;
蒋曦 .
中国专利 :CN114280454A ,2022-04-05
[4]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
史云龙 ;
程之龙 ;
刘岩 ;
范凯毓 .
中国专利 :CN120743645A ,2025-10-03
[5]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邱军龙 ;
周欢驰 ;
虢政 ;
常建宏 ;
李秉鑫 ;
毕开颜 .
中国专利 :CN120723557A ,2025-09-30
[6]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
欧永明 .
中国专利 :CN120652255A ,2025-09-16
[7]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
隋明月 ;
杨泽坤 ;
楚志华 ;
李安平 ;
李晓白 .
中国专利 :CN119438855A ,2025-02-14
[8]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
姜嘉欢 ;
张超 ;
刘世军 ;
郭建璞 ;
王英华 ;
张磊 ;
吕林君 .
中国专利 :CN115629296A ,2023-01-20
[9]
芯片测试方法、装置、存储介质及设备 [P]. 
吴义桂 ;
何骁伟 ;
杨国文 ;
季宿儒 ;
张清华 .
中国专利 :CN112782560A ,2021-05-11
[10]
芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
丁赛赛 ;
仰蕾 ;
熊世英 ;
封芳 ;
许崇 .
中国专利 :CN115437866A ,2022-12-06