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粒状材料の粒度分布測定システム及び粒度分布測定方法[ja]

被引：0
申请号：
JP20240033537
申请日：
2024-03-06
公开(公告)号：
JP2025135665A
公开(公告)日：
2025-09-19
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01N15/0227
IPC分类号：
G01N15/02
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
共 50 条
[1]
粒度分布測定システムおよび粒度分布測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7724688B2 ,2025-08-18
[2]
地盤材料の粒度分布測定方法及び地盤材料の粒度分布測定システム[ja] [P]. 
NAKAZAWA TAKESHI ;
ARAI TOMOYUKI ;
KOJIMA AKI ;
KITAJIMA AKIRA ;
FUKUSHIMA SHINJI ;
HIRANO KATSUNORI .
日本专利 :JP2024110522A ,2024-08-16
[3]
粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7739987B2 ,2025-09-17
[4]
粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6638526B2 ,2020-01-29
[5]
粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6566180B1 ,2019-08-28
[6]
粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2019193971A1 ,2020-04-30
[7]
粒度分布測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7610119B2 ,2025-01-08
[8]
粒度分布測定方法[ja] [P]. 
HASHIGUCHI SHOHEI ;
SUGIURA MASAHITO ;
NATSUI TAKUYA .
日本专利 :JP2025024413A ,2025-02-20
[9]
粒度分布測定方法[ja] [P]. 
HASHIGUCHI SHOHEI ;
SUGIURA MASAHITO ;
NATSUI TAKUYA ;
SHINOMIYA YUJI .
日本专利 :JP2025080149A ,2025-05-23
[10]
地盤材料の粒度分布測定方法及びシステム[ja] [P]. 
日本专利 :JP6521367B2 ,2019-05-29
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