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用于频率响应特性测量的方法以及装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511241292.2
申请日：
2025-09-02
公开(公告)号：
CN120750428A
公开(公告)日：
2025-10-03
发明(设计)人：
孙全辉 王晓珊
申请人：
光梓信息科技（上海）有限公司
申请人地址：
200120 上海市浦东新区中国(上海）自由贸易试验区亮秀路112号B座703A室
IPC主分类号：
H04B10/079
IPC分类号：
H04B10/077 H04B10/69 G01R31/00
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
陈舟苗
法律状态：
公开
国省代码：
上海市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-03 公开 公开
2025-11-18 授权 授权
2025-10-24 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H04B 10/079申请日:20250902
共 50 条
[1]
用于频率响应特性测量的方法以及装置 [P]. 
孙全辉 ;
王晓珊 .
中国专利 :CN120750428B ,2025-11-18
[2]
用于光电器件的频率响应特性的测量方法及装置 [P]. 
孙全辉 ;
周丕森 ;
吴映 .
中国专利 :CN120801814A ,2025-10-17
[3]
用于光电器件的频率响应特性的测量方法及装置 [P]. 
孙全辉 ;
周丕森 ;
吴映 .
中国专利 :CN120801814B ,2025-11-18
[4]
振动传感器频率响应特性的测量方法 [P]. 
赵燕鹏 ;
李秀高 .
中国专利 :CN105067109B ,2015-11-18
[5]
象限光电探测器频率响应特性参数测量装置 [P]. 
孟庆安 ;
樊红英 ;
蒋泽伟 ;
张浩 ;
陈好 ;
王询 ;
高伟翔 .
中国专利 :CN112858805A ,2021-05-28
[6]
一种光波元件频率响应特性参数测量装置 [P]. 
魏石磊 ;
张志辉 ;
张爱国 ;
李宝瑞 ;
王瑞霞 ;
王广彪 .
中国专利 :CN105606890B ,2016-05-25
[7]
拾振器频率响应特性装置 [P]. 
孙日新 ;
郭书立 ;
李宝成 ;
陈舒梅 ;
王树林 .
中国专利 :CN201993215U ,2011-09-28
[8]
一种用于芯片频率响应特性的测试装置 [P]. 
钟行 ;
王恒铭 ;
李晶 ;
胡艳 ;
岳爱文 .
中国专利 :CN206945819U ,2018-01-30
[9]
光发射机频率响应特性不平衡的测量装置及方法 [P]. 
鞠诚 ;
陶振宁 .
中国专利 :CN108631863A ,2018-10-09
[10]
光接收机频率响应特性不平衡的测量装置及方法 [P]. 
鞠诚 ;
陶振宁 .
中国专利 :CN107919905A ,2018-04-17
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