用于光电器件的频率响应特性的测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511241288.6

申请日：

2025-09-02

公开(公告)号：

CN120801814B

公开(公告)日：

2025-11-18

发明(设计)人：

孙全辉周丕森吴映

申请人：

光梓信息科技（上海）有限公司

申请人地址：

200120 上海市浦东新区中国(上海）自由贸易试验区亮秀路112号B座703A室

IPC主分类号：

G01R23/02

IPC分类号：

G01R1/28

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

陈舟苗

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-18	授权	授权
2025-11-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 23/02申请日:20250902
2025-10-17	公开	公开

共 50 条

[1]

用于光电器件的频率响应特性的测量方法及装置 [P].

孙全辉 ;

周丕森 ;

吴映 .

中国专利 :CN120801814A ,2025-10-17

[2]

用于频率响应特性测量的方法以及装置 [P].

孙全辉 ;

王晓珊 .

中国专利 :CN120750428A ,2025-10-03

[3]

用于频率响应特性测量的方法以及装置 [P].

孙全辉 ;

王晓珊 .

中国专利 :CN120750428B ,2025-11-18

[4]

振动传感器频率响应特性的测量方法 [P].

赵燕鹏 ;

李秀高 .

中国专利 :CN105067109B ,2015-11-18

[5]

光器件宽带频率响应测量方法及装置 [P].

文俊 ;

石迪飞 ;

李明 ;

祝宁华 ;

李伟 .

中国专利 :CN112432764B ,2021-03-02

[6]

系统频率响应的测量方法 [P].

张虎 ;

张军 .

中国专利 :CN104198810A ,2014-12-10

[7]

光器件宽带频率响应值的测量方法及装置 [P].

文俊 ;

李伟 ;

李明 ;

祝宁华 .

中国专利 :CN107132027B ,2017-09-05

[8]

墨滴频率响应的测量装置和测量方法 [P].

连志如 ;

李明玲 ;

赖怡绚 ;

胡鸿烈 ;

王介文 .

中国专利 :CN1103289C ,2000-05-17

[9]

一种光电器件频率响应测试系统及方法 [P].

金辉 ;

张爱国 ;

曲天阳 ;

鞠军委 ;

徐桂城 ;

韩顺利 ;

张志辉 ;

闫继送 .

中国专利 :CN110098866B ,2019-08-06

[10]

象限光电探测器频率响应特性参数测量装置 [P].

孟庆安 ;

樊红英 ;

蒋泽伟 ;

张浩 ;

陈好 ;

王询 ;

高伟翔 .

中国专利 :CN112858805A ,2021-05-28

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