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内存故障的检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410323930.4
申请日：
2024-03-20
公开(公告)号：
CN118093287B
公开(公告)日：
2025-10-10
发明(设计)人：
王玉龙 杜望宁 钱东彦
申请人：
龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址：
100095 北京市海淀区地锦路7号院4号楼1层101
IPC主分类号：
G06F11/22
IPC分类号：
G06F11/07 G06F9/4401
代理机构：
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人：
刘冬亮
法律状态：
授权
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-10 授权 授权
2024-05-28 公开 公开
2024-06-14 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240320
共 50 条
[1]
内存故障的检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王玉龙 ;
杜望宁 ;
钱东彦 .
中国专利 :CN118093287A ,2024-05-28
[2]
内存错误的检测方法、装置、电子设备、存储介质及车辆 [P]. 
张鸣雷 .
中国专利 :CN118445123A ,2024-08-06
[3]
内存故障预测方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张静 ;
张宪波 .
中国专利 :CN117931499A ,2024-04-26
[4]
内存检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张宇昂 .
中国专利 :CN118363838A ,2024-07-19
[5]
故障检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
石翔 ;
邓洋涛 ;
江卓 ;
张行健 ;
叶剑西 ;
王剑 .
中国专利 :CN120448228A ,2025-08-08
[6]
内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
杨光栋 .
中国专利 :CN111966603A ,2020-11-20
[7]
内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
杨光栋 .
中国专利 :CN111966603B ,2024-01-19
[8]
故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王兆桐 .
中国专利 :CN114003459B ,2025-12-02
[9]
故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王兆桐 .
中国专利 :CN114003459A ,2022-02-01
[10]
一种故障检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
汪峰来 ;
陆志浩 ;
郑弦 .
中国专利 :CN117573459A ,2024-02-20
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