微粒子测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480026936.3

申请日：

2024-04-24

公开(公告)号：

CN120981713A

公开(公告)日：

2025-11-18

发明(设计)人：

今井康晴鹫津信荣

申请人：

株式会社爱德万测试

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N15/13

IPC分类号：

G01N15/12 G01N33/49

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291

代理人：

黄志华;洪秀川

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-18	公开	公开
2025-12-05	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 15/13申请日:20240424

共 50 条

[1]

微粒子測定装置[ja] [P].

SATO HIROSHI ;

IMAI YASUHARU ;

WASHIZU SHINEI .

日本专利 :JP2024176884A ,2024-12-19

[2]

微粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6134572B2 ,2017-05-24

[3]

微粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5851534B2 ,2016-02-03

[4]

微粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009118821A1 ,2011-07-21

[5]

渡边周 ;

末安志织 ;

中村圭太郎 .

中国专利 :CN114728333A ,2022-07-08

[6]

微粒子測定装置及び微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2010092773A1 ,2012-08-16

[7]

微粒子抽出装置、微粒子抽出方法[ja] [P].

日本专利 :JP7207910B2 ,2023-01-18

[8]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5842050B2 ,2016-01-13

[9]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009128233A1 ,2011-08-04

[10]

微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009093458A1 ,2011-05-26

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