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一种光学检测设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202422570505.3
申请日
:
2024-10-23
公开(公告)号
:
CN223538798U
公开(公告)日
:
2025-11-11
发明(设计)人
:
占善平
申请人
:
广州镭晨智能装备科技有限公司
申请人地址
:
510700 广东省广州市黄埔区科珠路192号320房
IPC主分类号
:
G01N21/956
IPC分类号
:
G01N21/01
代理机构
:
北京泽方誉航专利代理事务所(普通合伙) 11884
代理人
:
姚圣婷
法律状态
:
授权
国省代码
:
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-11
授权
授权
共 50 条
[1]
一种光学检测设备
[P].
金燕
论文数:
0
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0
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0
金燕
.
中国专利
:CN108226171A
,2018-06-29
[2]
一种光学检测设备
[P].
尹俊
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机构:
旭点智能装备(苏州)有限公司
旭点智能装备(苏州)有限公司
尹俊
;
汪高明
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机构:
旭点智能装备(苏州)有限公司
旭点智能装备(苏州)有限公司
汪高明
.
中国专利
:CN221174410U
,2024-06-18
[3]
一种光学检测设备
[P].
金燕
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金燕
.
中国专利
:CN208043684U
,2018-11-02
[4]
一种光学检测设备
[P].
柴新玉
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柴新玉
;
肖治祥
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肖治祥
;
朱涛
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朱涛
.
中国专利
:CN216247731U
,2022-04-08
[5]
一种用于光学检测设备的多功能载具、光学检测设备
[P].
郑浩
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郑浩
.
中国专利
:CN210981305U
,2020-07-10
[6]
光学检测设备
[P].
周翔
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周翔
;
丁晓华
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丁晓华
;
张昕阳
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张昕阳
.
中国专利
:CN206020294U
,2017-03-15
[7]
一种可检测光学镜片内部杂质的光学检测设备
[P].
方路路
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机构:
上饶市兴合光电有限公司
上饶市兴合光电有限公司
方路路
;
方美琴
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机构:
上饶市兴合光电有限公司
上饶市兴合光电有限公司
方美琴
;
程菊萍
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机构:
上饶市兴合光电有限公司
上饶市兴合光电有限公司
程菊萍
.
中国专利
:CN121141686A
,2025-12-16
[8]
一种光学检测设备和光学检测方法
[P].
孔寒夫
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
孔寒夫
;
孙刚
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
孙刚
.
中国专利
:CN117783114A
,2024-03-29
[9]
一种光学检测系统及光学检测设备
[P].
宋磊
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宋磊
;
黄先纯
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黄先纯
.
中国专利
:CN106092970B
,2016-11-09
[10]
一种光学检测系统和光学检测设备
[P].
陈鲁
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
陈鲁
;
董坤玲
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
董坤玲
;
魏新和
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
魏新和
;
张鹏斌
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
张鹏斌
;
段晓炳
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
段晓炳
;
吴彦强
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
吴彦强
;
杨亭
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
杨亭
;
王志伟
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
王志伟
;
李选选
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
李选选
;
张谦
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机构:
上海中科飞测半导体科技有限公司
上海中科飞测半导体科技有限公司
张谦
.
中国专利
:CN119915740A
,2025-05-02
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