缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511050543.9

申请日：

2025-07-29

公开(公告)号：

CN120563501B

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

陈凡黄雪峰杨超

申请人：

深圳市信润富联数字科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区清水河街道清水河社区清水河五路10号润启科技大厦2001

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/44 G06V10/82 G06N3/045

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

牛悦涵

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250729
2025-11-07	授权	授权
2025-08-29	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

陈凡 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120563501A ,2025-08-29

[2]

产品缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

冯扬扬 .

中国专利 :CN115641306A ,2023-01-24

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334A ,2024-02-09

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陈路燕 ;

聂磊 .

中国专利 :CN118212175A ,2024-06-18

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334B ,2024-05-24

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

郭凯 ;

李小龙 ;

王锐拓 ;

刘伟星 ;

秦纬 ;

彭宽军 .

中国专利 :CN110349145B ,2019-10-18

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

刘小磊 ;

王云奇 ;

彭项君 ;

赵晨曦 ;

楚明磊 ;

陈丽莉 .

中国专利 :CN110766736A ,2020-02-07

[8]

缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质 [P].

徐海俊 ;

韩晓 .

中国专利 :CN117474917B ,2024-08-30

[9]

缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质 [P].

徐海俊 ;

韩晓 .

中国专利 :CN117474917A ,2024-01-30

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈维玲 ;

戴波 ;

夏健钧 ;

严静 ;

秦祥熙 ;

陈嘉豪 .

中国专利 :CN120385688A ,2025-07-29

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