缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910615856.2

申请日：

2019-07-09

公开(公告)号：

CN110349145B

公开(公告)日：

2019-10-18

发明(设计)人：

郭凯李小龙王锐拓刘伟星秦纬彭宽军

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06N308

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

李莎

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-18	公开	公开
2019-11-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20190709
2022-08-16	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334A ,2024-02-09

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陈路燕 ;

聂磊 .

中国专利 :CN118212175A ,2024-06-18

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334B ,2024-05-24

[4]

缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

陈凡 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120563501B ,2025-11-07

[5]

缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

陈凡 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120563501A ,2025-08-29

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

刘小磊 ;

王云奇 ;

彭项君 ;

赵晨曦 ;

楚明磊 ;

陈丽莉 .

中国专利 :CN110766736A ,2020-02-07

[7]

缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质 [P].

徐海俊 ;

韩晓 .

中国专利 :CN117474917B ,2024-08-30

[8]

缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质 [P].

徐海俊 ;

韩晓 .

中国专利 :CN117474917A ,2024-01-30

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

马政 ;

钟志权 ;

王新江 .

中国专利 :CN114943726A ,2022-08-26

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

徐海俊 .

中国专利 :CN119888304A ,2025-04-25

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