缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411776789.X

申请日：

2024-12-04

公开(公告)号：

CN119888304A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

徐海俊

申请人：

苏州镁伽科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区东平街277号

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06V10/40 G06V10/774 G06V10/24

代理机构：

北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481

代理人：

徐丁峰;戴亚南

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/764申请日:20241204

共 50 条

[1]

缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质 [P].

徐海俊 ;

韩晓 .

中国专利 :CN117474917B ,2024-08-30

[2]

缺陷检测方法和装置、电子设备以及存储介质 [P].

徐海俊 ;

韩晓 .

中国专利 :CN117474917A ,2024-01-30

[3]

工业缺陷检测方法、装置及电子设备、存储介质 [P].

张海涛 ;

孙涛 ;

艾坤 ;

刘海峰 ;

王子磊 .

中国专利 :CN115496892A ,2022-12-20

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈诗伟 ;

孙新 .

中国专利 :CN117853425A ,2024-04-09

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宗泽亮 ;

刘华凯 ;

吴佳飞 .

中国专利 :CN114841946A ,2022-08-02

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓阳 .

中国专利 :CN120833287A ,2025-10-24

[7]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334A ,2024-02-09

[10]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

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