工业缺陷检测方法、装置及电子设备、存储介质

被引：0

申请号：

CN202211383054.1

申请日：

2022-11-07

公开(公告)号：

CN115496892A

公开(公告)日：

2022-12-20

发明(设计)人：

张海涛孙涛艾坤刘海峰王子磊

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市高新区望江西路5089号中国科大先进技术研究院一号嵌入式研发楼3楼301室

IPC主分类号：

G06V1020

IPC分类号：

G06V1040 G06V10766 G06V10774 G06V1026

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

雷玉龙

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06V 10/20 申请日:20221107
2022-12-20	公开	公开

共 50 条

[1]

工业缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

韩冬 ;

王灼 ;

李咏 ;

郑翔 .

中国专利 :CN121147092A ,2025-12-16

[2]

工业缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

金紫君 ;

沈航 ;

庞观士 ;

林诗美 ;

胡钢 ;

张淑凤 ;

董婉冰 ;

匡雯慧 .

中国专利 :CN117670867A ,2024-03-08

[3]

工业缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林家辉 ;

周有喜 .

中国专利 :CN115393305A ,2022-11-25

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

刘文龙 ;

高斌斌 .

中国专利 :CN112801047B ,2021-05-14

[5]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郑星 ;

钟巧勇 ;

谢迪 .

中国专利 :CN120725955A ,2025-09-30

[6]

工业样本缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈壹华 ;

陈榕榕 ;

徐芳 ;

曾易文浩 ;

杨明樟 .

中国专利 :CN118333946A ,2024-07-12

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

徐海俊 .

中国专利 :CN119888304A ,2025-04-25

[8]

图像缺陷的检测方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P].

肖慧慧 ;

聂磊 ;

邹建法 ;

黄锋 .

中国专利 :CN112581463A ,2021-03-30

[9]

图像缺陷的检测方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P].

肖慧慧 ;

聂磊 ;

邹建法 ;

黄锋 .

中国专利 :CN112581463B ,2024-02-27

[10]

板材图像的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李芦峰 ;

苟正锋 ;

王振 ;

翟丽萍 ;

李睿丰 ;

吴霞 .

中国专利 :CN117911317A ,2024-04-19

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