工业缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311855022.1

申请日：

2023-12-28

公开(公告)号：

CN117670867A

公开(公告)日：

2024-03-08

发明(设计)人：

金紫君沈航庞观士林诗美胡钢张淑凤董婉冰匡雯慧

申请人：

研祥智能科技股份有限公司

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中四道31号研祥科技大厦

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/13 G06N3/0464 G06N3/08

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

徐晓龙

法律状态：

公开

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-08	公开	公开
2024-06-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231228

共 50 条

[1]

工业缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

韩冬 ;

王灼 ;

李咏 ;

郑翔 .

中国专利 :CN121147092A ,2025-12-16

[2]

工业缺陷检测方法、装置及电子设备、存储介质 [P].

张海涛 ;

孙涛 ;

艾坤 ;

刘海峰 ;

王子磊 .

中国专利 :CN115496892A ,2022-12-20

[3]

工业缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林家辉 ;

周有喜 .

中国专利 :CN115393305A ,2022-11-25

[4]

工业样本缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈壹华 ;

陈榕榕 ;

徐芳 ;

曾易文浩 ;

杨明樟 .

中国专利 :CN118333946A ,2024-07-12

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宗泽亮 ;

刘华凯 ;

吴佳飞 .

中国专利 :CN114841946A ,2022-08-02

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓阳 .

中国专利 :CN120833287A ,2025-10-24

[7]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[9]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[10]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

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