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一种液氮温度下的半导体电阻率测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202211370159.3
申请日
:
2022-11-03
公开(公告)号
:
CN115575679B
公开(公告)日
:
2025-11-14
发明(设计)人
:
王昕
叶灿明
李俊生
王世进
申请人
:
广州昆德半导体测试技术有限公司
申请人地址
:
511330 广东省广州市增城区新城大道400号增城低碳总部新城创业中心12号楼607
IPC主分类号
:
G01R1/067
IPC分类号
:
G01R27/02
代理机构
:
广州市华学知识产权代理有限公司 44245
代理人
:
郑秋松
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 广州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-14
授权
授权
共 50 条
[1]
一种液氮温度下的半导体电阻率测量装置
[P].
王昕
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王昕
;
叶灿明
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叶灿明
;
李俊生
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李俊生
;
王世进
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王世进
.
中国专利
:CN115575679A
,2023-01-06
[2]
电阻率测量夹具及电阻率测量装置
[P].
曹朔豪
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机构:
北京中科三环高技术股份有限公司
北京中科三环高技术股份有限公司
曹朔豪
;
黄锐
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北京中科三环高技术股份有限公司
北京中科三环高技术股份有限公司
黄锐
;
陈治安
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北京中科三环高技术股份有限公司
北京中科三环高技术股份有限公司
陈治安
;
金国顺
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机构:
北京中科三环高技术股份有限公司
北京中科三环高技术股份有限公司
金国顺
.
中国专利
:CN223022178U
,2025-06-24
[3]
一种半导电化合物半导体电阻率的测量装置
[P].
王昕
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
王昕
;
李俊生
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
李俊生
;
王昱
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
王昱
;
张杰
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机构:
广州昆德半导体测试技术有限公司
广州昆德半导体测试技术有限公司
张杰
.
中国专利
:CN222994380U
,2025-06-17
[4]
电阻率测量装置
[P].
李志勇
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李志勇
;
郑权
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郑权
;
王丽红
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王丽红
;
闫冬成
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闫冬成
;
李俊锋
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李俊锋
;
张广涛
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张广涛
.
中国专利
:CN206832890U
,2018-01-02
[5]
电阻率测量装置
[P].
张起祥
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张起祥
.
中国专利
:CN201654133U
,2010-11-24
[6]
一种导体电阻及其电阻率测量装置
[P].
佘长清
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佘长清
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金爱民
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金爱民
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郭富胜
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郭富胜
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李伟
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李伟
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肖雪
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肖雪
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满超楠
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满超楠
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宋方超
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宋方超
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王春
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王春
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林祥舰
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林祥舰
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毕晓燕
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毕晓燕
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刘秉娥
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刘秉娥
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柴龙庆
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柴龙庆
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刘桂伶
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杨富栋
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杨富栋
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苏在涛
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苏在涛
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戚树江
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戚树江
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王军波
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王军波
.
中国专利
:CN104198819A
,2014-12-10
[7]
一种导体电阻及其电阻率测量装置
[P].
佘长清
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佘长清
;
金爱民
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金爱民
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郭富胜
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郭富胜
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李伟
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李伟
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肖雪
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满超楠
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宋方超
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王春
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王春
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毕晓燕
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刘秉娥
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刘秉娥
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柴龙庆
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刘桂伶
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杨富栋
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苏在涛
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苏在涛
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戚树江
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戚树江
;
王军波
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王军波
.
中国专利
:CN204086403U
,2015-01-07
[8]
一种电阻率测量装置
[P].
何丽芳
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机构:
马鞍山芯乔科技有限公司
马鞍山芯乔科技有限公司
何丽芳
;
林晋安
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机构:
马鞍山芯乔科技有限公司
马鞍山芯乔科技有限公司
林晋安
;
卜绪飞
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机构:
马鞍山芯乔科技有限公司
马鞍山芯乔科技有限公司
卜绪飞
.
中国专利
:CN221224866U
,2024-06-25
[9]
一种电阻率测量装置
[P].
高良源
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高良源
.
中国专利
:CN207379965U
,2018-05-18
[10]
一种非接触测试半绝缘半导体电阻率的装置
[P].
王昕
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王昕
;
田蕾
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田蕾
;
李俊生
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李俊生
.
中国专利
:CN206773072U
,2017-12-19
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